航天器運(yùn)行所處的宇宙空間環(huán)境中存在大量射線(xiàn)粒子，這些粒子會(huì)在航天器電子器件中產(chǎn)生空間輻射效應(yīng)，導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能下降、狀態(tài)改變，甚至功能失效，影響航天器使用壽命及在軌可靠運(yùn)行。航天器功能和性能要求越來(lái)越高，高可靠性、高集成度、高性能、低功耗納米電子器件的空間應(yīng)用前景廣闊。納米器件趨于物理極限的材料、工藝和結(jié)構(gòu)特點(diǎn)對(duì)空間輻

書(shū)中重點(diǎn)聚焦于固體中電子輸運(yùn)過(guò)程的仿真方法、二次電子發(fā)射特性仿真分析及其應(yīng)用三個(gè)部分。首先主要介紹了電子散射截面計(jì)算方法、隨機(jī)數(shù)、最小值、蒙特卡羅仿真策略等；然后在二次電子發(fā)射特性仿真分析重點(diǎn)討論了背散射系數(shù)、二次電子發(fā)射系數(shù)、二次電子能譜的計(jì)算結(jié)果；最后討論了仿真方法在SEM中線(xiàn)寬測(cè)量、能量選擇掃描電子摻雜襯度計(jì)算以

本書(shū)內(nèi)容涵蓋各類(lèi)基于新型材料和結(jié)構(gòu)的光電子器件，采用超構(gòu)材料、電光材料、磁光材料、熱光材料及二維材料設(shè)計(jì)和制備了包括調(diào)制器、光開(kāi)關(guān)、濾波器、傳感器、光場(chǎng)調(diào)控器件在內(nèi)的光電子器件。這些光電子器件的提出拓展了一些嶄新物理現(xiàn)象的應(yīng)用領(lǐng)域，如光自旋霍爾效應(yīng)、磁光古斯·鄄漢森效應(yīng)等。

本書(shū)系統(tǒng)介紹與超導(dǎo)科學(xué)與技術(shù)相關(guān)的基礎(chǔ)知識(shí)。主要內(nèi)容包括超導(dǎo)現(xiàn)象發(fā)現(xiàn)的時(shí)間及時(shí)代背景，零電阻、完全抗磁性及約瑟夫森效應(yīng)等超導(dǎo)體的基本物理性質(zhì)；經(jīng)典超導(dǎo)理論(如兩流體模型、倫敦理論和金茲堡-朗道理論、BCS理論)的物理性質(zhì)及其促進(jìn)超導(dǎo)科學(xué)發(fā)展的意義；超導(dǎo)體的主要特征參數(shù)及其測(cè)量方法，以及超導(dǎo)磁體、超導(dǎo)電力、超導(dǎo)量子干涉器

本書(shū)是按照普通高等院校電工電子技術(shù)課程教學(xué)基本要求并結(jié)合多年實(shí)踐性教學(xué)環(huán)節(jié)改革經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)培養(yǎng)學(xué)生實(shí)踐能力和創(chuàng)新能力的教學(xué)目的而編寫(xiě)的。全書(shū)共分三篇：第d一篇為電路CAD實(shí)習(xí)，是為配合電路理論課程而開(kāi)設(shè)的實(shí)習(xí)。通過(guò)電路CAD實(shí)習(xí)，使學(xué)生能夠?qū)λ�掌握的電路基本理論和基本知識(shí)加以驗(yàn)證，能夠根據(jù)設(shè)計(jì)要求獨(dú)立完成電路的設(shè)計(jì)、分析

本書(shū)以白光半導(dǎo)體（LED）照明用三基色熒光粉開(kāi)發(fā)為出發(fā)點(diǎn)，重點(diǎn)介紹了近紫外光（395nm）LED芯片及藍(lán)光（460nm）LED芯片用稀土離子（Eu3+,Tb3+,Eu2+等）激活的無(wú)機(jī)熒光粉（鉬酸鹽、鎢酸鹽、硅酸鹽熒光粉等）、β-二酮有機(jī)配合物熒光粉以及過(guò)渡金屬離子Mn4+激活的氟化物紅色熒光粉的研究現(xiàn)狀。內(nèi)容主要涉及

本書(shū)介紹了電磁防護(hù)仿生研究在仿生自修復(fù)技術(shù)方面取得的有益嘗試和階段性成果：演化硬件理論與技術(shù)、數(shù)字電路演化設(shè)計(jì)方法、可演化電子系統(tǒng)平臺(tái)與自修復(fù)方法，以及典型應(yīng)用試驗(yàn)結(jié)果。

本書(shū)結(jié)合作者多年工程實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，涵蓋電子系統(tǒng)可靠性論證、可靠性管理、可靠性設(shè)計(jì)與分析、可靠性試驗(yàn)與評(píng)價(jià)、使用可靠性改進(jìn)等方面內(nèi)容，融合了作者在復(fù)雜系統(tǒng)可靠性建模與協(xié)同設(shè)計(jì)、可靠性仿真、可靠性強(qiáng)化和加速增長(zhǎng)試驗(yàn)、高加速應(yīng)力篩選、加速壽命試驗(yàn)、大型系統(tǒng)多源數(shù)據(jù)融合可靠性綜合評(píng)價(jià)、健康管理等方面研究成果。為可靠性工程技術(shù)和管理

本書(shū)全面論述了電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與應(yīng)用技術(shù)。全書(shū)共7章。第1章介紹了電子系統(tǒng)及其功能組成、電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)方法與開(kāi)發(fā)流程、電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)應(yīng)考慮的主要因素、常用EDA軟件以及電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)的資料查找方法；第2章論述了電子系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)和主要性能指標(biāo)、發(fā)射機(jī)和接收機(jī)組成與性能指標(biāo)，并介紹了分貝的概念及其應(yīng)用；第3章論述了信息傳感與轉(zhuǎn)換

《電子系統(tǒng)基礎(chǔ)訓(xùn)練》為面向全校低年級(jí)本科生的電子實(shí)驗(yàn)課程，以信息學(xué)院學(xué)生為主，實(shí)驗(yàn)內(nèi)容設(shè)計(jì)上秉承新工科教學(xué)理念，立足于當(dāng)前時(shí)代需求，著重培養(yǎng)學(xué)生對(duì)電子工程方向的興趣。本教材分為原理篇和實(shí)驗(yàn)篇，本書(shū)原理篇介紹了與實(shí)驗(yàn)相關(guān)的四個(gè)知識(shí)點(diǎn)，包括：焊接技術(shù)簡(jiǎn)介；電子實(shí)驗(yàn)室基本儀器介紹；Arduino電子設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)平臺(tái)以及簡(jiǎn)單反饋控