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點擊返回 當前位置:首頁 > 中圖法 【TB96 光學計量】 分類索引
  • 全偏振測量與成像
    • 全偏振測量與成像
    • 馬輝,何宏輝,曾楠,廖然/2023-3-1/ 科學出版社/定價:¥198
    • 偏振方法可獲得復雜介質光學性質和微觀結構的豐富信息,具有無標記、無損傷、跨尺度、多模態(tài)和定量等特點,可用于復雜樣本定量表征、細致分類和動態(tài)測量。本書介紹基于彈性散射的偏振光學測量方法,及其在復雜樣本測量特別是生物醫(yī)學診斷等領域的應用。主要內容包括:生物組織的偏振散射模型,偏振光在散射介質中傳播的基本規(guī)律與模擬,光的偏振

    • ISBN:9787030739063
  • 偏振信息測量及其成像處理技術
    • 偏振信息測量及其成像處理技術
    • 胡浩豐,劉鐵根,李校博著/2022-11-1/ 科學出版社/定價:¥128
    • 本書針對偏振信息測量和偏振信息處理這兩個偏振成像技術的核心環(huán)節(jié),基于作者及其研究團隊多年的研究成果,介紹了偏振信息測量技術的原理以及最新的優(yōu)化測量方法,并介紹了偏振信息處理技術的算法原理及其在偏振圖像去霧、偏振圖像去噪等領域的應用和相關的最新研究進展。本書內容包含理論、方法、系統(tǒng)、應用四個層次,具體內容包括:偏振光學、

    • ISBN:9787030739445
  • 光場成像技術與設備
    • 光場成像技術與設備
    • 關鴻亮,段福洲/2021-10-1/ 科學出版社/定價:¥138
    • 本書系統(tǒng)地介紹了光場成像的發(fā)展與現狀,通過對比光場相機的成像特點闡述了不同的檢校方法;在光場相機的重聚焦和全聚焦方面論述并對比了不同算法的特點;在論述基于成像一致性的深度檢測算法基礎上,分析并對比了不同主流算法的效率和效果。在光場相機不斷發(fā)展的基礎上,虛擬現實、智能駕駛、工業(yè)檢測等應用也在后一章給出了示例和展望。

    • ISBN:9787030695130
  • 掃描近場光學顯微鏡與納米光學測量
    • 掃描近場光學顯微鏡與納米光學測量
    • 王佳,武曉宇,孫琳編著/2017-12-1/ 科學出版社/定價:¥198
    • 掃描近場光學顯微鏡能夠突破光學衍射極限實現超分辨成像,因此成為納米光學測量中*重要的工具之一。本書首先對近場光學的基本概念和探測原理進行概述,然后對近場光學顯微鏡的分類、工作原理、功能模塊、關鍵技術、性能指標等進行闡述。納米光學測量在納米光子學和等離激元光學研究中有諸多重要的應用,包括近場光學超分辨成像、納米尺度光場振

    • ISBN:9787030487995
  • 現代光學測試技術
    • 現代光學測試技術
    • 蘇俊宏,田愛玲,楊利紅編著/2013-3-1/ 科學出版社/定價:¥47.4
    • 現代光學測試技術研究領域包括光干涉技術、光衍射技術、光偏振技術、光全息技術、光掃描技術、光散斑技術、莫爾技術、光譜技術、光纖技術,等等!冬F代光學測試技術》涉及內容除基本光學測量技術外,主要以光干涉測試技術為主,介紹了各種光學量的測試原理及測試方法。全書共11章。第一、二章系統(tǒng)地介紹了現代光學測試技術的基本理論及其發(fā)展

    • ISBN:9787030366641
  • 光柵投影三維精密測量
    • 光柵投影三維精密測量
    • 達飛鵬,蓋紹彥著/2011-1-1/ 科學出版社/定價:¥60
    • 光學三維測量技術以現代光學為基礎,融光電子學、圖像處理、圖形學等為一體,是科學技術飛速發(fā)展所催生出的現代測量技術;跅l紋投影的三維測量方法通過將一定規(guī)則的光柵條紋投影到物體表面,對獲取到的條紋圖像作為三維信息的載體加以分析,由視覺原理得到物體的表面信息!豆鈻磐队叭S精密測量》從構建條紋投影三維測量系統(tǒng)的角度,對視覺

    • ISBN:9787030300010
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