偏振方法可獲得復(fù)雜介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)和微觀結(jié)構(gòu)的豐富信息，具有無標(biāo)記、無損傷、跨尺度、多模態(tài)和定量等特點(diǎn)，可用于復(fù)雜樣本定量表征、細(xì)致分類和動(dòng)態(tài)測(cè)量。本書介紹基于彈性散射的偏振光學(xué)測(cè)量方法，及其在復(fù)雜樣本測(cè)量特別是生物醫(yī)學(xué)診斷等領(lǐng)域的應(yīng)用。主要內(nèi)容包括：生物組織的偏振散射模型，偏振光在散射介質(zhì)中傳播的基本規(guī)律與模擬，光的偏振

本書針對(duì)偏振信息測(cè)量和偏振信息處理這兩個(gè)偏振成像技術(shù)的核心環(huán)節(jié)，基于作者及其研究團(tuán)隊(duì)多年的研究成果，介紹了偏振信息測(cè)量技術(shù)的原理以及最新的優(yōu)化測(cè)量方法，并介紹了偏振信息處理技術(shù)的算法原理及其在偏振圖像去霧、偏振圖像去噪等領(lǐng)域的應(yīng)用和相關(guān)的最新研究進(jìn)展。本書內(nèi)容包含理論、方法、系統(tǒng)、應(yīng)用四個(gè)層次，具體內(nèi)容包括：偏振光學(xué)、

本書系統(tǒng)地介紹了光場(chǎng)成像的發(fā)展與現(xiàn)狀，通過對(duì)比光場(chǎng)相機(jī)的成像特點(diǎn)闡述了不同的檢校方法；在光場(chǎng)相機(jī)的重聚焦和全聚焦方面論述并對(duì)比了不同算法的特點(diǎn)；在論述基于成像一致性的深度檢測(cè)算法基礎(chǔ)上，分析并對(duì)比了不同主流算法的效率和效果。在光場(chǎng)相機(jī)不斷發(fā)展的基礎(chǔ)上，虛擬現(xiàn)實(shí)、智能駕駛、工業(yè)檢測(cè)等應(yīng)用也在后一章給出了示例和展望。

掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡能夠突破光學(xué)衍射極限實(shí)現(xiàn)超分辨成像，因此成為納米光學(xué)測(cè)量中*重要的工具之一。本書首先對(duì)近場(chǎng)光學(xué)的基本概念和探測(cè)原理進(jìn)行概述，然后對(duì)近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的分類、工作原理、功能模塊、關(guān)鍵技術(shù)、性能指標(biāo)等進(jìn)行闡述。納米光學(xué)測(cè)量在納米光子學(xué)和等離激元光學(xué)研究中有諸多重要的應(yīng)用，包括近場(chǎng)光學(xué)超分辨成像、納米尺度光場(chǎng)振

現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)研究領(lǐng)域包括光干涉技術(shù)、光衍射技術(shù)、光偏振技術(shù)、光全息技術(shù)、光掃描技術(shù)、光散斑技術(shù)、莫爾技術(shù)、光譜技術(shù)、光纖技術(shù)，等等。《現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)》涉及內(nèi)容除基本光學(xué)測(cè)量技術(shù)外，主要以光干涉測(cè)試技術(shù)為主，介紹了各種光學(xué)量的測(cè)試原理及測(cè)試方法。全書共11章。第一、二章系統(tǒng)地介紹了現(xiàn)代光學(xué)測(cè)試技術(shù)的基本理論及其發(fā)展

光學(xué)三維測(cè)量技術(shù)以現(xiàn)代光學(xué)為基礎(chǔ)，融光電子學(xué)、圖像處理、圖形學(xué)等為一體，是科學(xué)技術(shù)飛速發(fā)展所催生出的現(xiàn)代測(cè)量技術(shù)。基于條紋投影的三維測(cè)量方法通過將一定規(guī)則的光柵條紋投影到物體表面，對(duì)獲取到的條紋圖像作為三維信息的載體加以分析，由視覺原理得到物體的表面信息。《光柵投影三維精密測(cè)量》從構(gòu)建條紋投影三維測(cè)量系統(tǒng)的角度，對(duì)視覺