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芯片驗(yàn)證漫游指南——從系統(tǒng)理論到UVM的驗(yàn)證全視界

芯片驗(yàn)證漫游指南——從系統(tǒng)理論到UVM的驗(yàn)證全視界

定  價(jià):99 元

        

  • 作者:劉斌
  • 出版時(shí)間:2018/4/1
  • ISBN:9787121339011
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN43-62 
  • 頁(yè)碼:560
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16K
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資深驗(yàn)證專家劉斌(路桑)向您全面介紹芯片驗(yàn)證,從驗(yàn)證的理論,到SystemVerilog語(yǔ)言和UVM驗(yàn)證方法學(xué),再到高級(jí)驗(yàn)證項(xiàng)目話題。這本綜合性、實(shí)用性的驗(yàn)證理論和編程方面的圖書(shū),針對(duì)芯片驗(yàn)證領(lǐng)域不同級(jí)別的驗(yàn)證工程師,給出由淺入深的技術(shù)指南:學(xué)習(xí)驗(yàn)證理論來(lái)認(rèn)識(shí)驗(yàn)證流程和標(biāo)準(zhǔn),學(xué)習(xí)SystemVerilog語(yǔ)言和UVM方法學(xué)來(lái)掌握目前主流的動(dòng)態(tài)驗(yàn)證技術(shù),了解高級(jí)驗(yàn)證話題在今后遇到相關(guān)問(wèn)題時(shí)可以參考。
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