第1章　概論
　1.1　概述
　　1.1.1　測(cè)控儀器的概念
　　1.1.2　測(cè)控儀器和系統(tǒng)的地位與作用
　1.2　測(cè)控儀器的基本構(gòu)成
　　1.2.1　測(cè)控儀器的基本構(gòu)成
　　1.2.2　測(cè)控儀器的功能特點(diǎn)
　1.3　測(cè)控儀器的發(fā)展?fàn)顩r與前景
　　1.3.1　測(cè)控儀器的發(fā)展?fàn)顩r
　　1.3.2　虛擬儀器
　1.4　本課程的目的與要求
第2章　測(cè)控儀器總體設(shè)計(jì)
　2.1　設(shè)計(jì)指導(dǎo)思想和設(shè)計(jì)步驟
　　2.1.1　測(cè)控儀器性能指標(biāo)
　　2.1.2　設(shè)計(jì)指導(dǎo)思想
　　2.1.3　設(shè)計(jì)步驟
　2.2　測(cè)控儀器的組成及設(shè)計(jì)任務(wù)分析
　　2.2.1　測(cè)控儀器的組成
　　2.2.2　設(shè)計(jì)任務(wù)分析
　2.3　測(cè)控儀器設(shè)計(jì)原則
　　2.3.1　從原理出發(fā)提高精度的原則
　　2.3.2　變形小原則
　　2.3.3　坐標(biāo)系基準(zhǔn)統(tǒng)一原則
　　2.3.4　短測(cè)量鏈原則
　　2.3.5　精度匹配原則
　　2.3.6　運(yùn)動(dòng)學(xué)設(shè)計(jì)原則
　　2.3.7　阿貝原則
　　2.3.8　硬件、軟件協(xié)調(diào)優(yōu)化設(shè)計(jì)原則
　　2.3.9　可靠性原則
　　2.3.10　經(jīng)濟(jì)性原則
　2.4　測(cè)控儀器可靠性設(shè)計(jì)
　　2.4.1　可靠性設(shè)計(jì)意義
　　2.4.2　可靠性設(shè)計(jì)基本原則和任務(wù)
　　2.4.3　靠性設(shè)計(jì)基本內(nèi)容
　　2.4.4　可靠性設(shè)計(jì)步驟
第3章　儀器誤差分析
　3.1　儀器誤差基本概念
　　3.1.1　誤差定義及表示法
　　3.1.2　誤差類(lèi)型
　　3.1.3　精度
　3.2　儀器誤差來(lái)源與性質(zhì)
　　3.2.1　原理誤差
　　3.2.2　原始誤差
　3.3　儀器誤差分析與計(jì)算
　　3.3.1　誤差獨(dú)立作用原理
　　3.3.2　微分法
　　3.3.3　幾何法
　　3.3.4　逐步投影法
　　3.3.5　作用線(xiàn)與瞬時(shí)臂法
　3.4　儀器誤差合成
　　3.4.1　誤差合成
　　3.4.2　系統(tǒng)誤差合成
　　3.4.3　系統(tǒng)誤差與誤差合成
　3.5　儀器誤差分配
　　3.5.1　系統(tǒng)誤差分配
　　3.5.2　誤差和未定系統(tǒng)誤差分配
　　3.5.3　按可能性調(diào)整公差
第4章　測(cè)控儀器硬件電路設(shè)計(jì)
　4.1　電路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
　　4.1.1　測(cè)控電路的組成及作用
　　4.1.2　對(duì)測(cè)控電路的一般要求
　　4.1.3　電路系統(tǒng)的設(shè)計(jì)準(zhǔn)則
　4.2　典型傳感器接口電路設(shè)計(jì)
　　4.2.1　熱電阻接口電路
　　4.2.2　電容傳感器接口電路
　　4.2.3　電位器式傳感器接口電路
　　4.2.4　差分變壓器式傳感器接口電路
　　4.2.5　壓阻式壓力傳感器接口電路
　　4.2.6　壓電晶體傳感器接口電路
　　4.2.7　光電二極管接口電路
　4.3　中央處理模塊設(shè)計(jì)
　　4.3.1　以計(jì)算機(jī)為核心的中央處理系統(tǒng)
　　4.3.2　基于單片機(jī)的主機(jī)電路
　　4.3.3　基于微型計(jì)算機(jī)的主機(jī)電路
　4.4　輸入輸出通道及通信接口設(shè)計(jì)
　　4.4.1　模擬輸入通道
　　4.4.2　模擬輸出通道
　　4.4.3　開(kāi)關(guān)量輸入／輸出通道
　　4.4.4　測(cè)控儀器通信接口
　4.5　測(cè)控儀器的抗干擾技術(shù)及可靠性沒(méi)計(jì)　
　　4.5.1　測(cè)控儀器電路系統(tǒng)的抗干擾技術(shù)
　　4.5.2　電路系統(tǒng)的可靠性與故障診斷技術(shù)
第5章　測(cè)控儀器軟件設(shè)計(jì)
　5.1　接口程序設(shè)計(jì)
　　5.1.1 ADC0809與8031接口程序
　　5.1.2 DAC0832與8031接口程序
　　5.1.3　人-機(jī)接口程序
　5.2　控制算法
　　5.2.1　測(cè)量數(shù)據(jù)處理有效性
　　5.2.2　克服誤差的數(shù)字濾波法
　5.3　數(shù)字PID控制算法
　　5.3.1　位置式和增量式PID控制算法
　　5.3.2　改進(jìn)的PID控制算法
　5.4　自動(dòng)量程轉(zhuǎn)換與標(biāo)度變換
　　5.4.1　量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換電路的控制
　　5.4.2　標(biāo)度變換
　5.5　校正算法
　　5.5.1　系統(tǒng)誤差模型的建立
　　5.5.2　零位誤差和增益誤差的校正
　5.6　硬件故障的自診斷
第6章　測(cè)控儀器設(shè)計(jì)實(shí)例
　6.1　數(shù)字溫控器的設(shè)計(jì)
　　6.1.1　數(shù)字溫控器的設(shè)計(jì)要求
　　6.1.2　數(shù)字溫控器設(shè)計(jì)任務(wù)分析
　　6.1.3　數(shù)字溫控器硬件設(shè)計(jì)
　　6.1.4　數(shù)字溫控器軟件設(shè)計(jì)
　6.2　光柵位移顯示儀的設(shè)計(jì)
　　6.2.1　光柵位移顯示儀設(shè)計(jì)要求
　　6.2.2　光柵位移檢測(cè)原理
　　6.2.3　光柵位移顯示儀總體方案設(shè)計(jì)
　　6.2.4　光柵位移顯示儀硬件設(shè)計(jì)
　　6.2.5　光柵位移顯示儀軟件設(shè)計(jì)
參考文獻(xiàn)