ANSYS信號(hào)完整性和電源完整性分析與仿真實(shí)例(第二版)(萬(wàn)水ANSYS技術(shù)叢書)
定 價(jià):99 元
叢書名:ANSYS工程行業(yè)應(yīng)用系列
- 作者:房麗麗,章傳芳 著
- 出版時(shí)間:2018/8/1
- ISBN:9787517064510
- 出 版 社:中國(guó)水利水電出版社
- 中圖法分類:O241.82-39
- 頁(yè)碼:
- 紙張:膠版紙
- 版次:
- 開(kāi)本:16開(kāi)
《ANSYS信號(hào)完整性和電源完整性分析與仿真實(shí)例(第2版)/萬(wàn)水ANSYS技術(shù)叢書》對(duì)高速電路中的完整性問(wèn)題進(jìn)行了系統(tǒng)和全面的理論分析,闡述了信號(hào)完整性、電源完整性和EMI問(wèn)題的原理,并基于ANSYS軟件進(jìn)行了大量原理性仿真和工程實(shí)例仿真。
《ANSYS信號(hào)完整性和電源完整性分析與仿真實(shí)例(第2版)/萬(wàn)水ANSYS技術(shù)叢書》體系完整、可讀性和可操作性強(qiáng),理論分析緊密結(jié)合大量的原理仿真,同時(shí)通過(guò)詳實(shí)的工程實(shí)例使設(shè)計(jì)者能夠熟練掌握信號(hào)完整性、電源完整性和EMI的協(xié)同仿真方法,從而對(duì)實(shí)際工程問(wèn)題給出從芯片、封裝、電路板到系統(tǒng)端到端的全面解決方案。
《ANSYS信號(hào)完整性和電源完整性分析與仿真實(shí)例(第2版)/萬(wàn)水ANSYS技術(shù)叢書》可作為高等院校、研究院所、相關(guān)公司等從事完整性分析的設(shè)計(jì)人員的指導(dǎo)教材,也可作為高校相關(guān)專業(yè)研究生和本科生的科研教學(xué)參考書。
《ANSYS信號(hào)完整性和電源完整性分析與仿真實(shí)例(第2版)/萬(wàn)水ANSYS技術(shù)叢書》附有學(xué)習(xí)光盤,包含各章節(jié)中的仿真文件,以很大限度地提高讀者的學(xué)習(xí)效率。
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展及市場(chǎng)的需求,電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)已經(jīng)普遍進(jìn)入納秒級(jí)的高速電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域。電路的高速化、低電壓化、大電流化和高集成化,使得信號(hào)鏈路網(wǎng)絡(luò)、電源分配網(wǎng)絡(luò)和電磁兼容/電磁干擾問(wèn)題日益突出。高速電路的信號(hào)完整性和電源完整性分析學(xué)對(duì)電子專業(yè)來(lái)說(shuō),兼有專業(yè)基礎(chǔ)課、專業(yè)課和專業(yè)實(shí)踐課的多重性質(zhì),內(nèi)容豐富、涉及的問(wèn)題點(diǎn)多,且還在迅速發(fā)展中。因此本書在有限的篇幅中對(duì)內(nèi)容進(jìn)行了精心的取舍,以兼顧各個(gè)專業(yè)不同的要求。
北京理工大學(xué)于2002年舉辦了信號(hào)完整性培訓(xùn)班,作者參與了其培訓(xùn)教材的編寫,當(dāng)時(shí)的SI、PI和EMI問(wèn)題還是被分開(kāi)考慮的。2013年作者編寫了《ANSYS信號(hào)完整性分析與仿真實(shí)例》-書,此時(shí)還沒(méi)有全面的整體處理芯片一封裝一系統(tǒng)的方法。隨著仿真技術(shù)的不斷提高,本書在第一版的基礎(chǔ)上增加了CPS的SI、PI和EMI協(xié)同設(shè)計(jì)方法論和端到端的協(xié)同仿真技術(shù)。
本書的結(jié)構(gòu)遵循以下幾點(diǎn):
1.立足于理論學(xué)習(xí),軟件的使用方法是建立在設(shè)計(jì)者掌握了正確的設(shè)計(jì)理論基礎(chǔ)上進(jìn)行的,因此每章都先進(jìn)行理論分析。
2.理論的學(xué)習(xí)需要通過(guò)大量的分析來(lái)掌握,因此書中有大量的原理性仿真。
3.實(shí)踐是檢驗(yàn)真理的唯一標(biāo)準(zhǔn),最終的學(xué)習(xí)效果要通過(guò)實(shí)際的工程設(shè)計(jì)來(lái)檢驗(yàn),因此介紹了大量的工程實(shí)例仿真。
高速電路完整性分析所包含的內(nèi)容眾多,書中不僅涉及了SI、PI和EMI的理論,給出了大量的原理性仿真分析和實(shí)例仿真,同時(shí)還介紹了多個(gè)EDA軟件的詳細(xì)使用步驟,用于封裝和PCB設(shè)計(jì)及CPS的協(xié)同仿真。因此為了在有限的篇幅里盡可能高效清晰地進(jìn)行介紹,書中在第2.8小節(jié)匯總了仿真方法索引表;同時(shí)提供了學(xué)習(xí)光盤,包含各章節(jié)中的仿真文件。這些文件一部分來(lái)自于作者在教學(xué)中積累的大量仿真實(shí)例,另一部分來(lái)自于ANSYS公司授權(quán)的一些工程實(shí)例,力求讓讀者深入理解理論以分析實(shí)際的工程問(wèn)題,做到不僅會(huì)用軟件,而且可以用軟件指導(dǎo)設(shè)計(jì)。
本書包括II章。其中第1~10章由房麗麗編寫,第2章的2.7小節(jié)邀請(qǐng)ANSYS公司的褚正浩編寫,第11章由章傳芳編寫。
第1章為高速電路完整性問(wèn)題,介紹了完整性的基本問(wèn)題(SI、PI和EMI),包括定義、成因、分類以及各個(gè)問(wèn)題之間的相互關(guān)系。
第2章為高速電路的新設(shè)計(jì)方法學(xué),介紹內(nèi)容包括設(shè)計(jì)方法學(xué)的流程,信號(hào)鏈路和PDN協(xié)同建模,EDA軟件,以及CPS的SI、PI和EMI協(xié)同設(shè)計(jì)方法論。
第3章到第8章為信號(hào)完整性分析,對(duì)信號(hào)完整性問(wèn)題細(xì)分專題進(jìn)行討論,其中:
第3章為反射,分析了反射的產(chǎn)生機(jī)理,對(duì)不同端接形式、不同拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、典型不連續(xù)結(jié)構(gòu)的反射問(wèn)題進(jìn)行了分析探討,并給出了消除反射的措施。
前言
第1章 高速電路的完整性問(wèn)題
1.1 高速電路的定義與完整性問(wèn)題
1.1.1 高速電路的定義
1.1.2 完整性問(wèn)題
1.2 高速電路的信號(hào)完整性(SI)問(wèn)題
1.2.1 信號(hào)完整性的定義
1.2.2 信號(hào)完整性產(chǎn)生的原因及要求
1.2.3 信號(hào)的時(shí)域和頻域特性
1.2.4 電路分析的時(shí)域和頻域
1.2.5 信號(hào)的上升沿和帶寬
1.2.6 非理想脈沖有效頻譜的上限頻率和下限頻率
1.2.7 信號(hào)的反射(reflection)
1.2.8 信號(hào)的衰減(attenuation)
1.2.9 信號(hào)的色散(dispersion)
1.2.1 0多網(wǎng)絡(luò)間信號(hào)完整性問(wèn)題
1.2.1 1信號(hào)的時(shí)序(延遲/偏差/抖動(dòng))
1.3 高速電路的電源完整性(PI)問(wèn)題
1.3.1 源/地反彈
1.3.2 同步開(kāi)關(guān)噪聲
1.4 高速電路的電磁輻射干擾(EMI)問(wèn)題
1.5 高速電路的SI、PI和EMI協(xié)同分析
1.5.1 SI、PI和EMI相互關(guān)聯(lián)
1.5.2 例l:改善SI有助于改善EMI
1.5.3 例2:改善PI有助于改善SI和EMI
第2章 高速電路的新設(shè)計(jì)方法學(xué)
2.1 新設(shè)計(jì)方法學(xué)的設(shè)計(jì)流程
2.1.1 布線前仿真
2.1.2 布線后仿真
2.1.3 典型的前、后仿真流程
2.2 信號(hào)鏈路和PDN協(xié)同建模
2.3 有源器件模型
2.3.1 SPICE模型
2.3.2 IBIS模型
2.4 無(wú)源元件建模
2.4.1 經(jīng)驗(yàn)法則
2.4.2 解析近似
2.4 ,3數(shù)值仿真
2.5 EDA仿真工具及比較
2.5.1 電磁場(chǎng)仿真
2.5.2 電路仿真
2.5.3 行為仿真
2.6 CPS的SI、PI和EMI協(xié)同設(shè)計(jì)方法論
2.6.1 CPS的場(chǎng)路協(xié)同仿真
2.6.2 SI、PI和EMI協(xié)同設(shè)計(jì)方法
2.6.3 CPS的SI、PI和EMI協(xié)同設(shè)計(jì)流程
2.6.4 SI、PI和EMI協(xié)同設(shè)計(jì)實(shí)例
2.7 ANSYS用于完整性分析的EDA軟件
2.7.1 ANSYS的EDA軟件簡(jiǎn)介
2.7.2 電子設(shè)計(jì)桌面環(huán)境(Electronics Desktop)
2.7.3 HFSS軟件
2.7.4 Designer軟件
2.7.5 SIwave軟件
2.7.6 Q2D(SI2D)/Q3D軟件
2.8 仿真方法索引表
第3章 反射
3.1 反射的基本理論
3.1.1 從路的觀點(diǎn)看反射問(wèn)題
3.1.2 欠阻尼和過(guò)阻尼
3.1.3 一次反射
3.1.4 多次反射
3.1.5 阻性負(fù)載對(duì)反射的影響
3.1.6 容性負(fù)載對(duì)反射的影響
3.1.7 感性負(fù)載對(duì)反射的影響
3.2 TDR測(cè)試
……
第4章 有損耗傳輸線
第5章 串?dāng)_
第6章 差分線
第7章 縫隙和過(guò)孔
第8章 高速互連通道仿真
第9章 電源完整性分析
第10章 EMI輻射
第11章 芯片-封裝-系統(tǒng)的協(xié)同仿真