1Cadence系統(tǒng)環(huán)境設(shè)置與基本操作(1)
1.1實驗?zāi)康?1)
1.2實驗原理(1)
1.3實驗內(nèi)容(4)
2二輸入與非門電路原理圖設(shè)計(9)
2.1實驗?zāi)康?9)
2.2實驗原理(9)
2.3實驗內(nèi)容(11)
2.4拓展實驗(16)
3ADE 設(shè)置(18)
3.1實驗?zāi)康?18)
3.2實驗原理(18)
3.3實驗內(nèi)容(21)
4原理圖的層次化設(shè)計與仿真(29)
4.1實驗?zāi)康?29)
4.2實驗原理(29)
4.3實驗內(nèi)容(29)
4.4拓展實驗(42)
5ADE設(shè)置MOS特性測量(43)
5.1實驗?zāi)康?43)
5.2實驗原理(43)
5.3實驗內(nèi)容(44)
5.4拓展實驗(53)
專用集成電路實驗指導(dǎo)書目錄6運算放大器的仿真驗證(54)
6.1實驗?zāi)康?54)
6.2實驗原理(54)
6.3實驗內(nèi)容(54)
7AMS數(shù)/�；旌戏抡嫫�(62)
7.1實驗?zāi)康?62)
7.2實驗原理(62)
7.3實驗內(nèi)容(63)
7.4拓展實驗(68)
8Layout環(huán)境設(shè)置與基本操作(70)
8.1實驗?zāi)康?70)
8.2實驗原理(70)
8.3實驗內(nèi)容(71)
8.4拓展實驗(78)
9MOS版圖設(shè)計(79)
9.1實驗?zāi)康?79)
9.2實驗原理(79)
9.3實驗內(nèi)容(79)
9.4拓展實驗(83)
10BJT版圖設(shè)計(84)
10.1實驗?zāi)康?84)
10.2實驗原理(84)
10.3實驗內(nèi)容(87)
10.4拓展實驗(91)
11電阻、電容、二極管的版圖設(shè)計(92)
11.1實驗?zāi)康?92)
11.2實驗原理(92)
11.3 實驗內(nèi)容(96)
12CMOS反相器版圖設(shè)計與Diva版圖驗證工具(101)
12.1實驗?zāi)康?101)
12.2實驗原理(101)
12.3實驗內(nèi)容(104)
13NAND2版圖設(shè)計與Assura版圖驗證工具(115)
13.1實驗?zāi)康?115)
13.2實驗原理(115)
13.3實驗內(nèi)容(116)
13.4拓展實驗(134)
14環(huán)形振蕩器設(shè)計、仿真與Assura版圖驗證工具(135)
14.1實驗?zāi)康?135)
14.2實驗原理(135)
14.3實驗內(nèi)容(136)
15版圖寄生參數(shù)的提取與后仿真(151)
15.1實驗?zāi)康?151)
15.2實驗原理(151)
15.3實驗內(nèi)容(152)
16版圖數(shù)據(jù)的導(dǎo)入、導(dǎo)出與識別(168)
16.1實驗?zāi)康?168)
16.2實驗原理(168)
16.3 實驗內(nèi)容(169)
16.4拓展實驗(171)
17異或門與RS觸發(fā)器的設(shè)計(172)
17.1實驗?zāi)康?172)
17.2實驗原理(172)
17.2.1異或門的原理(172)
17.3實驗內(nèi)容(174)
17.3.4RS觸發(fā)器的設(shè)計(177)
17.4拓展實驗(179)
18靜態(tài)存儲器的設(shè)計(180)
18.1實驗?zāi)康?180)
18.2實驗原理(180)
18.3實驗內(nèi)容 (181)
18.4拓展實驗(182)
19D觸發(fā)器的設(shè)計(183)
19.1實驗?zāi)康?183)
19.2實驗原理(183)
19.3實驗內(nèi)容(185)
20對生成的GDS文件進(jìn)行DRC及LVS(196)
20.1實驗?zāi)康?196)
20.2實驗原理(196)
20.3實驗內(nèi)容(196)
附錄(202)
參考文獻(xiàn)(209)