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先進電子封Modeling,Analysis,Design and Tests for Electronics Packaging beyond Moore(超摩爾時代電子封裝建模、分析、設計與測試)

先進電子封Modeling,Analysis,Design and Tests for Electronics Packaging beyond Moore(超摩爾時代電子封裝建模、分析、設計與測試)

定  價:398 元

叢書名:先進電子封裝技術與關鍵材料叢書

        

  • 作者:張恒運(Hengyun Zhang)、車法星(Faxing Che)、林挺宇(Tingyu Lin)、趙文生(Wensheng Zhao) 著
  • 出版時間:2021/3/1
  • ISBN:9787122379528
  • 出 版 社:化學工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN05 
  • 頁碼:420
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開精
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讀者對象:本書可作為從事微電子封裝行業(yè)人員的參考資料,也可供高等院校相關專業(yè)研究生和高年級本科生學習參考。

本書系統(tǒng)介紹了超摩爾時代先進封裝理論模型、分析與新的模擬結果。內容涉及2.5D、3D、晶圓級封裝的電性能、熱性能、熱機械性能、散熱問題、可靠性問題、電氣串擾等問題,提出了基于多孔介質體積平均理論的建模方法并應用于日漸復雜的先進封裝結構,以及模型驗證、設計和測試,并從原理到應用對封裝熱傳輸進行了很好的介紹。同時,引入并分析了碳納米管、金剛石鍍層、石墨烯等新材料的應用性能。本書針對產(chǎn)品開發(fā)階段封裝的熱管理和應力管理方面進行了詳細闡述,在封裝性能測試、蒸汽層散熱器、微槽道冷卻、熱電制冷等方面也有涉及。相應的試驗測試和案例分析也便于讀者提高對封裝性能表征和評估方法的理解。
本書可作為從事微電子封裝行業(yè)人員的參考資料,也可供高等院校相關專業(yè)研究生和高年級本科生學習參考。
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