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光刻機像質(zhì)檢測技術(shù)(下冊) 讀者對象:本書適合企業(yè)、高校和科研院所從事高端光刻機研發(fā)的科研人員閱讀參考,也可供相關(guān)研究方向的研究生學(xué)習(xí)。另外,本書也可為從事光學(xué)成像相關(guān)技術(shù)研究的科技人員提供參考。
光刻機像質(zhì)檢測技術(shù)是支撐光刻機整機與分系統(tǒng)滿足光刻機分辨率、套刻精度等性能指標要求的關(guān)鍵技術(shù)。本書系統(tǒng)地介紹了光刻機像質(zhì)檢測技術(shù)。介紹了國際主流的光刻機像質(zhì)檢測技術(shù),詳細介紹了本團隊提出的系列新技術(shù),涵蓋了光刻膠曝光法、空間像測量法、干涉測量法等檢測技術(shù),包括初級像質(zhì)參數(shù)、波像差、偏振像差、動態(tài)像差、熱像差等像質(zhì)檢測技術(shù)。本書介紹了這些技術(shù)的理論基礎(chǔ)、原理、模型、算法、仿真與實驗驗證等內(nèi)容。以光刻機原位與在線像質(zhì)檢測技術(shù)為主,也介紹了投影物鏡的離線像質(zhì)檢測技術(shù),涵蓋了深紫外干式、浸液光刻機以及極紫外光刻機像質(zhì)檢測技術(shù)。
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