本書首先介紹了終端測(cè)試歷程及演變、終端測(cè)試技術(shù)；然后從5G關(guān)鍵技術(shù)和5G終端產(chǎn)品形態(tài)等方面論述了5G終端測(cè)試挑戰(zhàn)。本書重點(diǎn)描述了5G終端測(cè)試體系，以測(cè)試體系為指導(dǎo)，詳細(xì)描述了5G終端測(cè)試的各個(gè)領(lǐng)域，包括5G終端射頻測(cè)試、協(xié)議測(cè)試等一致性測(cè)試、業(yè)務(wù)和應(yīng)用測(cè)試以及整機(jī)通用測(cè)試，如天線測(cè)試、電磁兼容測(cè)試、電磁輻射測(cè)試、電氣安全測(cè)試、環(huán)境可靠性測(cè)試等。本書最后對(duì)5G終端測(cè)試趨勢(shì)的發(fā)展進(jìn)行了總結(jié)，展望了5G終端的分布式測(cè)試/云測(cè)試。本書既包含國(guó)內(nèi)外測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹，也包含測(cè)試設(shè)備使用、測(cè)試環(huán)境構(gòu)建，以及部分重要測(cè)試用例和測(cè)試方法詳解，涵蓋了5G終端中低頻段測(cè)試和毫米波頻段的測(cè)試。

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