本書介紹了金屬磁記憶檢測(cè)的原理、國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì)；根據(jù)磁性物質(zhì)的特點(diǎn)和力-磁耦合模型，探討了金屬磁記憶檢測(cè)機(jī)理和影響因素；將形態(tài)濾波和EMD分解閾值濾波方法結(jié)合起來，實(shí)現(xiàn)了金屬磁記憶檢測(cè)信號(hào)的降噪處理；將磁梯度張量測(cè)量分析方法應(yīng)用到信號(hào)特征提取中，提出以總梯度模量作為判據(jù)的磁記憶缺陷檢測(cè)方法；分析了不同類型缺陷的磁記憶信號(hào)分布特征差異，提出了基于磁記憶信號(hào)垂面分布特征缺陷損傷狀態(tài)識(shí)別方法；提取了一種可增強(qiáng)缺陷邊界特征的特征量，實(shí)現(xiàn)缺陷二維分布反演；建立了缺陷三維空間反演離散陣列模型，論述了基于截?cái)鄰V義逆矩陣和空間縮小的缺陷反演方法，實(shí)現(xiàn)缺陷三維輪廓重構(gòu)。