普通高等教育“十一五”電子電氣基礎(chǔ)課程規(guī)劃教材：數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)
定 價：36 元
叢書名：普通高等教育“十一五”電子電氣基礎(chǔ)課程規(guī)劃教材
- 作者：沈任元 編
- 出版時間：2010/7/1
- ISBN：9787111305804
- 出 版 社：機械工業(yè)出版社
- 中圖法分類：TN79
- 頁碼：312
- 紙張：膠版紙
- 版次：1
- 開本：16開
《數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)》是依據(jù)高等學(xué)校電氣信息類專業(yè)數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)課程教學(xué)的基本要求而編寫的理論和實驗合一的教材。課程以基礎(chǔ)實驗和項目任務(wù)實驗為引領(lǐng)，將知識點融人其中，通過實踐來學(xué)習基本理論，注重基本理論、基本分析方法的介紹和應(yīng)用，始終貫徹“教、學(xué)、練、思”相結(jié)合的原則，鼓勵學(xué)生積極思考，使學(xué)生熟悉器件在數(shù)字電子系統(tǒng)中的具體應(yīng)用，從能力培養(yǎng)的角度出發(fā)，使學(xué)生能夠?qū)W以致用，培養(yǎng)學(xué)生分析問題和解決問題的能力，創(chuàng)建一種生動的教學(xué)模式�！稊�(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)》可作為高等學(xué)校理工科電類各專業(yè)本科或?qū)？啤皵?shù)字電子技術(shù)”及相關(guān)課程的教材，也可供有關(guān)工程技術(shù)人員自學(xué)和參考。本教材可滿足先開設(shè)數(shù)字電路的要求。為方便教學(xué)，《數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)》配有理論課和習題課件，供教師參考。
本課程教學(xué)依據(jù)是高等學(xué)校電氣信息類專業(yè)數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)課程教學(xué)的基本要求。課程以基礎(chǔ)實驗和項目任務(wù)實驗為引領(lǐng)，將知識點融入其中，通過實踐來學(xué)習基本理論，注重基本理論、基本分析方法的介紹和應(yīng)用，始終貫徹“教、學(xué)、練、思”相結(jié)合的原則，鼓勵學(xué)生積極思考，使學(xué)生熟悉器件在數(shù)字電子系統(tǒng)中的具體應(yīng)用，從能力培養(yǎng)的角度出發(fā)，使學(xué)生能夠?qū)W以致用，培養(yǎng)學(xué)生分析問題和解決問題的能力，創(chuàng)建一種生動的教學(xué)模式。
為了適應(yīng)本科人才培養(yǎng)的要求和電子科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，我們從“數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)”課程的教學(xué)要求和總結(jié)教學(xué)實踐的基礎(chǔ)上來編寫這本理論和實驗合一的教材，采用更緊密的“教、學(xué)、做”教學(xué)理念，在傳統(tǒng)的傳遞知識型學(xué)科教學(xué)的基礎(chǔ)上，通過“教、學(xué)、做”使學(xué)生能學(xué)會學(xué)習，把被動接受學(xué)習轉(zhuǎn)向主動探究性的學(xué)習，使掌握的專業(yè)基礎(chǔ)知識有一定廣度和深度，對學(xué)生將來的學(xué)習和工作更具有意義和富有實際價值。
教材的主要特色：
�。�1）本課程教學(xué)依據(jù)是高等學(xué)校電氣信息類專業(yè)數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)課程教學(xué)的基本要求。尊重教學(xué)規(guī)律和學(xué)生認識規(guī)律，保證（不強調(diào)）知識的系統(tǒng)性、邏輯性和完整性，更關(guān)注學(xué)生的學(xué)習興趣，如何來更好地掌握數(shù)字電子技術(shù)的基本知識、基本理論以及分析和設(shè)計數(shù)字電路的一般方法。就目前來說，我們認為學(xué)習傳統(tǒng)數(shù)字電子的理論技術(shù)對于深入理解現(xiàn)代數(shù)字電子技術(shù)是必需的。
（2）理論教學(xué)與實踐應(yīng)用并重。課程教學(xué)通過基礎(chǔ)實驗和項目任務(wù)實驗的引領(lǐng)，將理論知識點融入實驗中，教材中安排了24個實驗，其中驗證性實驗6個，設(shè)計性實驗8個，課外實驗10個。設(shè)法改變原來的課程實施過于強調(diào)接受學(xué)習、死記硬背的現(xiàn)狀，鼓勵學(xué)生主動參與和充分交流，樂于探究，勤于動手，培養(yǎng)學(xué)生更新知識的能力，在實踐中教會學(xué)生發(fā)現(xiàn)問題、分析和解決問題的能力，使學(xué)生能夠?qū)W以致用，形成積極主動的學(xué)習態(tài)度，以符合應(yīng)用型本科人才培養(yǎng)的要求。
前言
寫給同學(xué)們的話
各章實驗匯總
第1章 數(shù)字電路和邏輯門電路
1．1 概述
1．2 數(shù)字信號與模擬信號
1．3 數(shù)字電路的邏輯狀態(tài)和正負邏輯
1．3．1 邏輯狀態(tài)和正負邏輯的規(guī)定
1．3．2 標準高低電平的規(guī)定
1．4 基本邏輯關(guān)系及其邏輯運算
1．4．1 與邏輯和與運算
1．4．2 或邏輯和或運算
1．4．3 非邏輯和非運算
1．5 半導(dǎo)體分立門電路
1．5．1 半導(dǎo)體基本知識
1．5．2 半導(dǎo)體二極管及其門電路
1．5．3 二極管門電路
1．5．4 晶體管及其門電路
1．6 TTL集成門電路
1．6．1 TTL門電路系列
1．6．2 TTL與非門電路
1．6．3 TTL門電路的外部特性
1．6．4 TTL門電路的主要參數(shù)
1．6．5 TTL其他類型的門電路
1．7 CMOS門電路
1．7．1 CMOS管的開關(guān)特性
1．7．2 CMOS門電路概述
1．7．3 CMOS門電路系列
1．7．4 CMOS器件使用時應(yīng)注意的問題
1．8 集成門電路的接口電路
1．8．1 TTL電路驅(qū)動CMOS電路
1．8．2 CMOS電路驅(qū)動TTL電路
1．9 數(shù)字電路故障的檢測和排除
1．9．1 產(chǎn)生故障的主要原因
1．9．2 常見的故障類型
1．9．3 查找故障的常用方法
1．10 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第2章 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)
2．1 數(shù)制與編碼
2．1．1 幾種常用的數(shù)制
2．1．2 不同進制數(shù)之間的相互轉(zhuǎn)換
2．1．3 編碼
2．2 邏輯代數(shù)基礎(chǔ)
2．2．1 基本概念
2．2．2 基本邏輯運算
2．3 邏輯函數(shù)常用的描述方法及相互間的轉(zhuǎn)換
2．3．1 邏輯函數(shù)及其表示方法
2．3．2 真值表、卡諾圖和函數(shù)式的對應(yīng)關(guān)系
2．3．3 用邏輯圖描述邏輯函數(shù)
2．3．4 用波形圖描述邏輯函數(shù)
2．3．5 邏輯函數(shù)相等的概念
2．4 邏輯函數(shù)的化簡
2．4．1 邏輯代數(shù)中的基本公式和定律
2．4．2 邏輯函數(shù)的化簡與變換
2．4．3 代數(shù)法化簡
2．4．4 卡諾圖法化簡
2．5 具有無關(guān)項邏輯函數(shù)的化簡
2．5．1 任意項、約束項和邏輯函數(shù)中的無關(guān)項
2．5．2 具有無關(guān)項的邏輯函數(shù)的化簡
2．6 用Muhisim進行邏輯電路仿真和變換
2．7 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第3章 組合邏輯電路
3．1 組合邏輯電路概述
3．2 組合邏輯電路的分析
3．2．1 基本分析方法
3．2．2 分析舉例
3．3 組合邏輯電路的設(shè)計
3．3．1 基本設(shè)計方法
3．3．2 設(shè)計舉例
3．4 常用的組合電路
3．4．1 編碼器
3．4．2 譯碼器
3．4．3 數(shù)據(jù)選擇器
3．4．4 數(shù)據(jù)分配器
3．4．5 數(shù)值比較器
3．4．6 加法器
3．5 組合邏輯電路中的競爭和冒險
3．5．1 競爭冒險現(xiàn)象產(chǎn)生及其產(chǎn)生的原因
3．5．2 冒險現(xiàn)象的判斷
3．5．3 消除冒險現(xiàn)象的方法
3．6 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第4章 觸發(fā)器
4．1 觸發(fā)器的基本電路
4．1．1 基本RS觸發(fā)器
4．1．2 鐘控Rs觸發(fā)器
4．2 邊沿觸發(fā)器
4．2．1 邊沿D觸發(fā)器
4．2．2 邊沿JK觸發(fā)器
4．3 觸發(fā)器功能的轉(zhuǎn)換
4．3．1 D觸發(fā)器轉(zhuǎn)換為JK、T和T觸發(fā)器
4．3．2 JK觸發(fā)器轉(zhuǎn)換為D、T和T觸發(fā)器
4．4 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第5章 時序邏輯電路
5．1 時序邏輯電路的基本概念
5．1．1 時序邏輯電路的結(jié)構(gòu)及特點
5．1．2 時序邏輯電路的分類
5．1．3 時序邏輯電路的邏輯功能的表示方法
5．2 時序邏輯電路的分析
5．3 常用集成時序邏輯器件
5．3．1 寄存器
5．3．2 計數(shù)器
5．4 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第6章 脈沖波形的產(chǎn)生與整形
6．1 預(yù)備知識
6．1．1 脈沖概念
6．1．2 微分電路和積分電路
6．1．3 閾值電壓
6．1．4 利用反相器對微積分脈沖進行整形處理
6．2 555定時器
6．2．1 555定時器的電路組成
6．2．2 555定時器的功能及工作原理
6．3 555定時器構(gòu)成脈沖波形的產(chǎn)生與整形電路
6．3．1 施密特觸發(fā)器
6．3．2 單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
6．3．3 多諧振蕩器
6．4 門電路構(gòu)成脈沖波形的產(chǎn)生與整形電路
6．4．1 用門電路組成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
6．4．2 用門電路組成的施密特觸發(fā)器
6．4．3 用門電路組成的多諧振蕩器
6．5 集成觸發(fā)器構(gòu)成脈沖波形的產(chǎn)生與整形電路
6．5．1 集成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
6．5．2 集成施密特觸發(fā)器
6．6 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第7章 半導(dǎo)體存儲器與可編程邏輯器件
7．1 半導(dǎo)體存儲器概述
7．1．1 半導(dǎo)體存儲器的分類
7．1．2 半導(dǎo)體存儲器的技術(shù)指標
7．2 只讀存儲器和隨機存儲器
7．2．1 只讀存儲器
7．2．2 隨機存取存儲器
7．2．3 存儲器的擴展
7．3 可編程邏輯器件
7．3．1 PLD概述
7．3．2 可編程邏輯陣列
7．3．3 通用陣列邏輯
7．3．4 復(fù)雜可編程邏輯器件
7．3．5 現(xiàn)場可編程邏輯陣列
7．4 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第8章 數(shù)／模和模／數(shù)轉(zhuǎn)換
8．1 D／A轉(zhuǎn)換器
8．1．1 D／A轉(zhuǎn)換器的基本原理
8．1．2 D／A轉(zhuǎn)換器的主要參數(shù)
8．1．3 集成D／A轉(zhuǎn)換器
8．2 A／D轉(zhuǎn)換器
8．2．1 A／D轉(zhuǎn)換的基本結(jié)構(gòu)和工作原理
8．2．2 A／D轉(zhuǎn)換器的組成和工作原理
8．2．3 A／D轉(zhuǎn)換器的主要參數(shù)
8．2．4 集成A／D轉(zhuǎn)換器ADC0809
8．3 應(yīng)用電路介紹
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
第9章 數(shù)字系統(tǒng)的綜合分析
9．1 數(shù)字系統(tǒng)的概念
9．2 數(shù)字系統(tǒng)的分析方法
9．3 數(shù)字系統(tǒng)的實例分析
本章小結(jié)
名人名事
思考題與習題
本章實驗
附錄
附錄A 電子電路實驗箱簡介
附錄B 步進電動機工作原理簡介
附錄C 部分基本邏輯單元圖形符號對照
部分習題答案
參考文獻
查找故障的目的是，確定產(chǎn)生故障的原因和部位，以便及時排除，使設(shè)備恢復(fù)正常工作。查找故障通常用以下方法。
1.直觀檢查法這是一種常規(guī)檢查。是指不采用任何儀器設(shè)備，也不改動電路接線。直接觀察電路表面來發(fā)現(xiàn)問題、尋找故障的方法。
1）靜態(tài)觀察：應(yīng)仔細觀察電路有沒有被腐蝕、破損；電源熔斷器是否燒斷；電源是否接人電路；導(dǎo)線有無斷線或短路；電子元器件有無變色或脫落，器件是否插對，引腳有無彎折、互碰；接插件有無松動、電解電容有無漏液、焊點有無脫落；多余輸入端處理是否正確；布線是否合理、是否有相碰短路現(xiàn)象。
2）通電后觀察：仔細觀察有無異�，F(xiàn)象。如電源是否短路；器件是否因電流過大而產(chǎn)生發(fā)燙、異味或冒煙情況；脈沖是否加入電路。此法適用于對故障進行初步檢查。一般明顯的故障可以用此法發(fā)現(xiàn)。
3）用儀表測試電路邏輯功能是否正常，并將檢查的結(jié)果作詳細記錄，以供分析故障時使用。
2.分割測試法一個數(shù)字系統(tǒng)通常由多個子系統(tǒng)或模塊組成，一旦發(fā)生故障往往很難查找。因此應(yīng)將整個電路按電路結(jié)構(gòu)或?qū)崿F(xiàn)功能分割成若干相對獨立的電路，根據(jù)故障現(xiàn)象和檢測結(jié)果進行分析、判斷，將懷疑出故障的子系統(tǒng)或模塊單獨進行檢查。如其輸入信號和控制信號都正常，而輸出信號不正常時，則故障就出在該子系統(tǒng)或模塊內(nèi)，然后再對該子系統(tǒng)或模塊內(nèi)的故障進行檢查。此法用于快速確定故障范圍，縮短查找故障的時間。
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