本書是一部論述微光像增強器測試技術(shù)的專著，是作者承擔國家科研項目的總結(jié)。
全書共 9 章，介紹微光像增強器測試技術(shù)理論和技術(shù)的基礎(chǔ)研究，包含熱電子面發(fā)射源、積分球漫反射均勻性、真空系統(tǒng)設(shè)計的研究; 系統(tǒng)闡述像增強器零部件測試技術(shù), 包含微通道板 MCP、 熒光屏的參數(shù)測試研究; 介紹了微光像增強器噪聲因子、噪聲特性測試的關(guān)鍵技術(shù)及研制設(shè)備; 介紹微光像增強器信噪比、分辨力、亮度增益的測試原理及測試設(shè)備的研制；介紹了紫外成像系統(tǒng)關(guān)鍵參數(shù)的測試技術(shù)及設(shè)備的研制; 最后針對低照度CMOS器件展開了夜視手持式、頭盔式的應(yīng)用研究，給出原理樣機。本書可作為高職院校和本科院校光學工程、電子科學與技術(shù)和光信息科學與技術(shù)等專業(yè)的教學用書，可供從事微光器件設(shè)計與應(yīng)用的有關(guān)科技人員參考。