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光學(xué)測(cè)量技術(shù)

光學(xué)測(cè)量技術(shù)

定  價(jià):28 元

        

  • 作者:方欽志著,方欽志,徐志敏編
  • 出版時(shí)間:2022/3/1
  • ISBN:9787569323634
  • 出 版 社:西安交通大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB96 
  • 頁(yè)碼:155
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開(kāi)本:16開(kāi)
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本教材主要內(nèi)容如下。
第1章主要介紹了常用的光學(xué)基本知識(shí),包括偏振光基本特性,光的折射、反射以及干涉現(xiàn)象,同時(shí)還介紹了二色性晶體等光學(xué)元件的特性。
第2章和第3章重點(diǎn)介紹了光彈性法測(cè)量應(yīng)力的基本原理,等差線、等傾線圖及其特性,以及如何利用得到的等差線、等傾線圖提取構(gòu)件應(yīng)力。根據(jù)作者多年的教學(xué)研究成果,本書(shū)中首次給出了以光強(qiáng)法為基礎(chǔ)的等差線和等傾線參數(shù)的提取方法。
第4章簡(jiǎn)單介紹了光彈性貼片法,以使學(xué)生能夠利用平面光彈性的基本知識(shí)解決構(gòu)件表面應(yīng)力應(yīng)變的測(cè)試問(wèn)題。
第5章介紹了散射光彈性方法。盡管散射光彈性方法對(duì)測(cè)試環(huán)境要求較高,但該方法在測(cè)量模型內(nèi)部三維應(yīng)力方面有其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)。
第6章介紹了全息光彈性方法的測(cè)試技術(shù)。該方法不但可以獲得等傾線和等差線圖,還可以獲得等程線和等和線圖,解決了普通光彈性方法不易進(jìn)行應(yīng)力分離的問(wèn)題,并且精度也有較大提高。
第7章介紹了如何利用全息照相技術(shù)進(jìn)行物體表面三維位移測(cè)量的技術(shù)。
第8章主要介紹了利用云紋柵進(jìn)行表面變形的云紋測(cè)試技術(shù),除了講解傳統(tǒng)的云紋方法之外,作者根據(jù)自己的教學(xué)研究成果,首次提出了數(shù)碼云紋的概念。
第9章簡(jiǎn)單介紹了激光散斑測(cè)試技術(shù)。
第10章作者在自己的研究成果的基礎(chǔ)上,結(jié)合文獻(xiàn)及其它教材,重點(diǎn)介紹了利用人工散斑進(jìn)行物體表面位移場(chǎng)測(cè)量的圖像相關(guān)分析法,以及在此基礎(chǔ)上發(fā)展起來(lái)的雙鏡頭和單鏡頭三維位移場(chǎng)測(cè)量技術(shù)。
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