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可靠性分析的計數(shù)過程

可靠性分析的計數(shù)過程

定  價:169 元

        

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  • 作者:[韓]金煥查(Ji Hwan Cha) [俄]馬克西姆·芬克爾斯坦(Maxim Finkelstein);李軍亮 張勇 譯
  • 出版時間:2022/8/22
  • ISBN:9787118125610
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:N945.17 
  • 頁碼:320
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本書以點過程的理論和應(yīng)用為重點,介紹了泊松過程、更新過程以及非齊次泊松等隨機(jī)過程在可靠性分析中應(yīng)用和發(fā)展,針對隨機(jī)過程模型在描述系統(tǒng)受外部環(huán)境“沖擊”的模型假設(shè)過于苛刻,不能完全吻合工程實踐的需求的情況,介紹并引入了廣義聚合過程,構(gòu)建了不同維修策略下的單元、雙變量、多元聚合過程模型,并舉例說明其在工程中的應(yīng)用,拓展了和豐富了隨機(jī)過程在可靠性領(lǐng)域的應(yīng)用。
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