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集成電路器件抗輻射加固設(shè)計技術(shù) 
定 價：129 元
9 7 7 8 4 7 7 0 1 3 4 0 3 讀者對象:本書可作為普通高等院校集成電路科學(xué)與工程、電子信息工程、微電子科學(xué)與工程、計算機科學(xué)與技術(shù)等專業(yè)的"集成電路設(shè)計"、"容錯計算"、"嵌入式系統(tǒng)設(shè)計"等課程的本科生和研究生教材，也可作為電路與系統(tǒng)研發(fā)工程師、芯片可靠性設(shè)計工程師以及集成電路容錯愛好者的學(xué)習(xí)參考用書或培訓(xùn)教材。
本書從集成電路器件可靠性問題出發(fā)，具體闡述了輻射環(huán)境、輻射效應(yīng)、軟錯誤和仿真工具等背景知識，詳細介紹了抗輻射加固設(shè)計（RHBD）技術(shù)以及在該技術(shù)中常用的相關(guān)組件，重點針對表決器、鎖存器、主從觸發(fā)器和靜態(tài)隨機訪問存儲器（SRAM）單元介紹了經(jīng)典的和新穎的RHBD技術(shù)，扼要描述了相關(guān)實驗并給出了容錯性能和開銷對比分析。本書共分為6章，分別為緒論、常用的抗輻射加固設(shè)計技術(shù)及組件、表決器的抗輻射加固設(shè)計技術(shù)、鎖存器的抗輻射加固設(shè)計技術(shù)、主從觸發(fā)器的抗輻射加固設(shè)計技術(shù)以及SRAM單元的抗輻射加固設(shè)計技術(shù)。通過學(xué)習(xí)本書內(nèi)容，讀者可以強化對集成電路器件抗輻射加固設(shè)計技術(shù)的認知，了解該領(lǐng)域的當前**研究成果和相關(guān)技術(shù)。
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