本書全面介紹了各種現(xiàn)代衍射方法，注重實(shí)踐案例，特別是在原位測(cè)量方面，旨在使讀者深入了解現(xiàn)代衍射技術(shù)的廣泛應(yīng)用，尤其是與當(dāng)今材料科學(xué)的密切結(jié)合，在科學(xué)研究中發(fā)揮著日益強(qiáng)大的作用�！禕R》全書共分四部分，第一部分是衍射揭示晶體結(jié)構(gòu)信息，包括單晶結(jié)構(gòu)解析（第1章）、粉末衍射全譜精修（第2章）和非晶、無序晶體、納米晶的全散射分析（第3章）；第二部分是衍射材料微結(jié)構(gòu)和缺陷分析，包括第4章的線形分析理論與技術(shù)，以及工程技術(shù)領(lǐng)域的實(shí)際應(yīng)用，如第5、6章的應(yīng)力衍射分析，特別是深度分布分析，第7章的取向織構(gòu)衍射分析（包括X射線、同步輻射、中子、透射電子、背散射電子），第8、9章側(cè)重薄膜及表面的衍射分析；第三部分是物相的定性定量分析，介紹現(xiàn)代流行的Rietveld精修方法，即衍射全譜擬合（第10章），以及這種方法在材料動(dòng)力學(xué)研究中的具體應(yīng)用（第11章）；第四部分主要涉及現(xiàn)代衍射的儀器裝置，第12章介紹各類光源（同步輻射、中子和實(shí)驗(yàn)室光源）、衍射幾何等，第13章介紹了衍射設(shè)備的檢定和校驗(yàn)方法，第14章專門介紹同步輻射光源的應(yīng)用，第15章是高能電子衍射，第16章對(duì)原位衍射測(cè)試中的主要問題做了點(diǎn)評(píng)和總結(jié)。

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