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現(xiàn)代材料測(cè)試分析方法

 現(xiàn)代材料測(cè)試分析方法

定  價(jià):68 元

        

  • 作者:張倩
  • 出版時(shí)間:2023/11/1
  • ISBN:9787576704792
  • 出 版 社:哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB3 
  • 頁碼:
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:
  • 開本:16開
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全書分為三大部分,共17章。第一部分光譜分析(第1~6章):首先概述光譜分析方法,然后從簡單的原子光譜入手,分別講解原子吸收光譜、原子發(fā)射光譜和原子熒光光譜,進(jìn)而詳細(xì)講述幾大分子光譜,包括紅外光譜、紫外一可見吸收光譜、分子熒光光譜、散射光譜拉曼光譜。第二部分熱分析(第7~13章):簡要介紹熱分析基本概念,引入熱學(xué)相關(guān)理論,重點(diǎn)講述常見的幾種熱分析方法,包括差熱分析、差示掃描量熱法、熱重分析、熱機(jī)械分析、熱導(dǎo)率測(cè)試和其他熱分析方法。第三部分掃描探針顯微
分析(第14~17章):宏觀了解掃描探針顯微分析方法,在此基礎(chǔ)上具體闡述幾種典型的掃描探針顯微分析方法,包括掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和其他類型掃描探針顯微鏡。每個(gè)部分內(nèi)容均涵蓋概論、原理、方法、應(yīng)用、分析等幾方面,讓讀者全面了解各種測(cè)試分析方法。
本書可作為高等院校材料、物理、化學(xué)等專業(yè)的本科生和研究生的教材或教學(xué)參考書,也可用作材料類及相關(guān)專業(yè)工程技術(shù)人員的參考書。

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