本書主要介紹了圖的兩個容錯性參數(shù)、不同故障模型下圖的診斷能力的關系以及故障網絡子結構可靠性的上下界。對高性能計算機系統(tǒng)的設計和研發(fā)有著重要的參考價值,同時為系統(tǒng)維護提供了理論依據(jù)。本書適合圖論研究者和愛好者閱讀。
第1章 緒論
1.1 研究背景及本書研究內容
1.2 圖的基本概念與互連網絡模型
第2章 n維環(huán)面網絡的匹配排除
2.1 匹配排除問題研究進展和本章主要結論
2.2 準備工作
2.3 2維環(huán)面網絡的匹配排除數(shù)
2.4 n維環(huán)面網絡的最小匹配排除集
第3章 k復合網絡的強匹配排除
3.1 強匹配排除問題研究進展和本章主要結論
3.2 準備工作
3.3 k復合網絡的最小強匹配排除集
3.4 應用
第4章 n維環(huán)面網絡的分數(shù)匹配排除
4.1 分數(shù)匹配排除問題研究進展和本章主要結論
4.2 準備工作
4.3 n維環(huán)面網絡的最小分數(shù)匹配排除集
4.4 n維環(huán)面網絡的最小條件分數(shù)匹配排除集
第5章 超Rk連通
5.1 連通度問題研究進展和本章主要結論
5.2 準備工作
5.3 輪生成的凱萊圖的最小R1-點割和最小R2-點割
第6章 不同診斷模型下網絡的g好鄰診斷度關系
6.1 故障診斷問題研究進展和本章主要結論
6.2 準備工作
6.3 主要結論
6.4 應用
第7章 由完全圖對換生成的凱萊圖的子結構分析
7.1 子結構可靠性問題研究進展和本章主要結論
7.2 準備工作
7.3 主要結論
參考文獻