本書(shū)全面系統(tǒng)地介紹了常用于電化學(xué)中研究領(lǐng)域的原位表征技術(shù)，對(duì)各類(lèi)原位表征技術(shù)以及其應(yīng)用示例展開(kāi)詳細(xì)的敘述，主要內(nèi)容包括：原位技術(shù)在電化學(xué)中的發(fā)展現(xiàn)狀總述、原位X射線衍射基礎(chǔ)理論及在電池測(cè)試中的應(yīng)用、原位傅里葉變換紅外光譜儀基礎(chǔ)及其在電化學(xué)中的應(yīng)用、原位拉曼光譜儀基礎(chǔ)以及在電化學(xué)中的應(yīng)用、原位質(zhì)譜分析技術(shù)及在電化學(xué)中的應(yīng)用、原位透射電鏡(TEM)技術(shù)及其在電化學(xué)中的應(yīng)用。由基本概念至實(shí)際應(yīng)用案例，深入淺出解析各種原位表征技術(shù)在電化學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用場(chǎng)景，從抽象轉(zhuǎn)為具象。

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