本書(shū)全面論述了軟件測(cè)試的基本原理和一般方法。全書(shū)共分10章,分別為:軟件測(cè)試的基本概念,軟件缺陷數(shù)目的預(yù)測(cè)方法,黑盒測(cè)試方法,白盒覆蓋測(cè)試技術(shù),其他白盒測(cè)試方法,基于故障的軟件測(cè)試方法,與軟件開(kāi)發(fā)階段相關(guān)的各種測(cè)試(包括集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、需求測(cè)試、設(shè)計(jì)測(cè)試與其他專(zhuān)向測(cè)試)方法,軟件可靠性測(cè)試方法,面向?qū)ο蟮能浖�測(cè)試方法和軟件測(cè)試性分析方法。 本書(shū)全面論述了軟件測(cè)試技術(shù)近些年來(lái)發(fā)展的最新成果,有相當(dāng)一部分內(nèi)容是首次在著作中出現(xiàn)。本書(shū)可作為研究生教材,也可以作為軟件測(cè)試工作人員的參考書(shū)。