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敏感性試驗的優(yōu)化設(shè)計及參數(shù)估計 讀者對象:敏感性試驗設(shè)計方向研究生、青年教師 敏感性試驗設(shè)計工程師(包含關(guān)于燃爆產(chǎn)品試驗的敏感性試驗設(shè)計、以及關(guān)于藥劑有效性和毒性試驗的敏感性試驗設(shè)計)
敏感性試驗設(shè)計是試驗設(shè)計研究領(lǐng)域的主要研究方向之一,其應(yīng)用背景主要是針對燃爆產(chǎn)品試驗和藥劑試驗,通過設(shè)計若干刺激水平和觀測對應(yīng)的二元響應(yīng)數(shù)據(jù),估計感興趣的特殊刺激水平,如成功響應(yīng)概率p對應(yīng)的刺激水平,稱其為感度分布的p分位數(shù)。
傳統(tǒng)的敏感性試驗設(shè)計沒有優(yōu)化準(zhǔn)則,而且希望估計的主要是0.5分位數(shù)。隨著對研究對象更高質(zhì)量的要求,在中小樣本下估計極端p分位數(shù)的需求越來越強烈。本專著主要給出估計該類極端p分位數(shù)的優(yōu)化試驗設(shè)計方法,并在三元響應(yīng)和混合響應(yīng)情形下給出廣義敏感性試驗設(shè)計的概念、統(tǒng)計模型和廣義p分位數(shù)的表達(dá)式。進(jìn)一步給出估計廣義p分位數(shù)的優(yōu)化試驗設(shè)計方法。
為了方便使用者,本專著還將給出各種方法的R程序,并展示具體應(yīng)用實例。
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