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表面缺陷智能檢測(cè)方法與應(yīng)用

表面缺陷智能檢測(cè)方法與應(yīng)用

定  價(jià):148 元

        

  • 作者:顏云輝
  • 出版時(shí)間:2024/6/1
  • ISBN:9787030778680
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:F405-39 
  • 頁碼:426
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:B5
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讀者對(duì)象:本書可供各高校光電子信息類、機(jī)械儀表和計(jì)算機(jī)類的研究生和高年級(jí)本科生,以及其他科研人員參考。

本書旨在總結(jié)歸納工業(yè)缺陷領(lǐng)域的最新技術(shù)發(fā)展,并將課題組近年的研究成果集結(jié)成書,內(nèi)容涉及基于二維圖像、三維點(diǎn)云、光度立體以及多模態(tài)融合等多種數(shù)據(jù)維度的工業(yè)缺陷檢測(cè)技術(shù)及其應(yīng)用。通過本書的閱讀,希望能夠給從事機(jī)器視覺及工業(yè)缺陷檢測(cè)的讀者提供啟示和借鑒,同時(shí)也為相關(guān)問題的研究提供一定的參考。第一章 緒 論;第二章 人類視覺機(jī)制下的缺陷檢測(cè);第三章 有限樣本下的缺陷檢測(cè);第四章 圖像級(jí)標(biāo)注下的缺陷檢測(cè);第五章 結(jié)構(gòu)光下的缺陷檢測(cè);第六章 光度立體下的缺陷檢測(cè);第七章 三維/二維融合的缺陷檢測(cè)。

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