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試驗(yàn)設(shè)計(jì)方法在印制電路制造中的應(yīng)用

試驗(yàn)設(shè)計(jì)方法在印制電路制造中的應(yīng)用

定  價:68 元

        

  • 作者:陳苑明主編
  • 出版時間:2024/3/1
  • ISBN:9787577009667
  • 出 版 社:電子科技大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN41 
  • 頁碼:269頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:26cm
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試驗(yàn)設(shè)計(jì)方法是可實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)地、科學(xué)地安排試驗(yàn)的一項(xiàng)通用技術(shù),是當(dāng)代科技和工程技術(shù)人員必須掌握的技術(shù)方法。本書從試驗(yàn)設(shè)計(jì)的理論知識、設(shè)計(jì)過程、分析軟件使用等多方面系統(tǒng)地闡述試驗(yàn)設(shè)計(jì)在印制電路制造中的應(yīng)用。本書共6章,第1章介紹正交試驗(yàn)設(shè)計(jì)在印制電路等離子清洗優(yōu)化的應(yīng)用;第2章介紹正交試驗(yàn)方差分析法在印制電路激光切割優(yōu)化的應(yīng)用;第3章介紹因子設(shè)計(jì)在印制電路機(jī)械鉆孔優(yōu)化的應(yīng)用;第4章介紹單純型優(yōu)化法在印制電路激光鉆孔優(yōu)化的應(yīng)用;第5章介紹均勻設(shè)計(jì)法在印制電路層間壓合優(yōu)化的應(yīng)用;第6章介紹回歸分析法在陶瓷材料制造優(yōu)化的應(yīng)用。本書可作為印制電路專業(yè)方向的師生使用,又可作為科技和工程技術(shù)人員的參考用書。
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