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圖解高可靠性SiC功率半導(dǎo)體器件與封裝技術(shù)

圖解高可靠性SiC功率半導(dǎo)體器件與封裝技術(shù)

定  價:69 元

        

  • 作者:(日)巖室憲幸著
  • 出版時間:2025/9/1
  • ISBN:9787111790990
  • 出 版 社:機(jī)械工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TN305.94-64 
  • 頁碼:140頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:21cm
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全書共有5章,首先講解了包括功率半導(dǎo)體器件基礎(chǔ),如種類、結(jié)構(gòu)、在電路中的作用等;接著闡述了硅功率半導(dǎo)體器件現(xiàn)狀,重點聚焦SiC功率半導(dǎo)體器件,并深入探討了SiC-MOSFET的結(jié)構(gòu)、原理、應(yīng)用、發(fā)展現(xiàn)狀、面臨的挑戰(zhàn)及解決方法,詳細(xì)論述了其耐受能力指標(biāo),如短路、關(guān)斷等耐受能力,最后講解了SiC-MOSFET封裝技術(shù)。
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