第1章　邏輯代數基礎　
1.1　模擬信號和數字信號　
1.1.1　模擬信號和數字信號　
1.1.2　模擬量的數字表示　
1.1.3　數字電路的特點和分類　
1.2　數制和碼制　
1.2.1　數制　
1.2.2　碼制　
1.3　邏輯代數的基本運算　
1.3.1　與運算(邏輯與)　
1.3.2　或運算(邏輯或)　
1.3.3　非運算(邏輯非)　
1.4　邏輯代數的基本定律及規(guī)則　
1.4.1　基本定律　
1.4.2　常用公式　
1.4.3　重要規(guī)則　
1.5　邏輯函數及其表示方法　
1.5.1　邏輯函數　
1.5.2　邏輯函數的表示方法　
1.5.3　邏輯函數的兩種標準形式　
1.6　邏輯函數的化簡　
1.6.1　邏輯函數的最簡表達式　
1.6.2　邏輯函數的公式法化簡　
1.6.3　邏輯函數的卡諾圖化簡法　
1.6.4　具有無關項的邏輯函數及其化簡　
1.7　數字系統(tǒng)一般故障的檢查和排除　
1.7.1　直觀檢查法　
1.7.2　測量電阻法　
1.7.3　靜態(tài)測量　
1.7.4　動態(tài)測量　
小結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　

第2章　邏輯門電路　
2.1　基本邏輯門　
2.1.1　與門　
2.1.2　或門　
2.1.3　與門和或門實際應用　
2.1.4　非門　
2.2　復合邏輯門　
2.2.1　與非門　
2.2.2　或非門　
2.2.3　異或門　
2.2.4　同或門　
2.2.5　與或非門　
2.2.6　與非門和或非門實際應用　
2.3　特殊邏輯門　
2.3.1　三態(tài)邏輯門　
2.3.2　集電極開路邏輯門　
2.4　集成邏輯門　
2.4.1　數字集成電路分類　
2.4.2　TTL集成電路邏輯門　
2.4.3　CMOS集成電路邏輯門　
2.4.4　集成電路邏輯門的性能參數　
2.4.5　TTL與CMOS集成電路的接口　
2.4.6　集成電路使用常識　
2.5　故障診斷和排查　
2.5.1　與門和或門的故障排查技術　
2.5.2　與非門和或非門的故障排查技術　
小結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　
實驗與實訓　

第3章　組合邏輯電路　
3.1　組合邏輯電路的特點和分類　
3.1.1　組合邏輯電路的特點　
3.1.2　組合邏輯電路的功能表示方法　
3.1.3　組合邏輯電路的分類　
3.2　組合邏輯電路的分析和設計　
3.2.1　組合邏輯電路的分析　
3.2.2　組合邏輯電路的設計　
3.3　常用集成組合邏輯電路　
3.3.1　加法器　
3.3.2　數值比較器　
3.3.3　編碼器　
3.3.4　譯碼器　
3.3.5　數據選擇器和分配器　
3.4　組合邏輯電路中競爭冒險現象　
3.4.1　競爭冒險現象的產生原因　
3.4.2　競爭冒險現象的判斷方法　
3.4.3　競爭冒險現象的消除方法　
3.5　故障診斷和排查　
3.5.1　電平恒定　
3.5.2　加法器的故障排查技術　
3.5.3　比較器的故障排查技術　
3.5.4　編碼器的故障排查技術　
3.5.5　譯碼器的故障排查技術　
3.5.6　數據選擇器的故障排查技術　
小結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　
實驗與實訓　

第4章　觸發(fā)器　
4.1　基本觸發(fā)器　
4.1.1　用與非門組成的基本觸發(fā)器　
4.1.2　用或非門組成的基本觸發(fā)器　
4.1.3　基本RS觸發(fā)器的特點及應用　
4.2　同步觸發(fā)器　
4.2.1　同步RS觸發(fā)器　
4.2.2　同步D觸發(fā)器　
4.2.3　同步RS觸發(fā)器的空翻問題　
4.3　主從觸發(fā)器　
4.3.1　主從RS觸發(fā)器　
4.3.2　主從JK觸發(fā)器　
4.4　邊沿觸發(fā)器　
4.4.1　邊沿D觸發(fā)器　
4.4.2　邊沿JK觸發(fā)器　
4.4.3　其他類型觸發(fā)器　
4.5　故障診斷和排查　
4.5.1　基本RS觸發(fā)器的故障排查技術　
4.5.2　邊沿JK觸發(fā)器的故障排查技術　
小結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　
實驗與實訓　

第5章　時序邏輯電路　
5.1　時序邏輯電路的特點和分類　
5.1.1　時序邏輯電路的特點　
5.1.2　時序邏輯電路功能表示方法　
5.1.3　時序邏輯電路分類　
5.2　時序邏輯電路的分析和設計　
5.2.1　時序邏輯電路的分析　
5.2.2　時序邏輯電路的設計　
5.3　計數器　
5.3.1　計數器的特點和分類　
5.3.2　二進制計數器　
5.3.3　十進制計數器　
5.3.4　N進制計數器　
5.4　寄存器　
5.4.1　寄存器的主要特點和分類　
5.4.2　基本寄存器　
5.4.3　移位寄存器　
5.4.4　移位寄存器型N進制計數器　
5.4.5　順序脈沖發(fā)生器　
5.5　故障診斷和排查　
5.5.1　集成計數器故障排查技術　
5.5.2　級聯的計數器故障排查技術　
5.5.3　觸發(fā)器構成的計數器故障排查技術　
小結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　
實驗與實訓　

第6章　脈沖發(fā)生與整形電路　
6.1　脈沖信號基本參數　
6.2　集成定時器　
6.2.1　CC7555定時器　
6.2.2　脈沖產生整形電路　
6.3　多諧振蕩器　
6.3.1　用555定時器構成的多諧振蕩器　
6.3.2　石英晶體多諧振蕩器　
6.3.3　多諧振蕩器應用舉例　
6.4　施密特觸發(fā)器　
6.4.1　用555定時器構成的施密特觸發(fā)器　
6.4.2　集成施密特觸發(fā)器　
6.4.3　施密特觸發(fā)器應用舉例　
6.5　單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器　
6.5.1　用555定時器構成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器　
6.5.2　集成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器　
6.5.3　單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器應用舉例　
6.6　故障診斷和排查　
6.6.1　定時器的故障分析　
6.6.2　脈沖發(fā)生電路的故障分析　
小結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　
實驗與實訓　

第7章　數模和模數轉換器　
7.1　數字系統(tǒng)的構成　
7.2　數模轉換器　
7.2.1　數模轉換器的工作原理　
7.2.2　權電阻數模轉換器　
7.2.3　Ｔ型電阻網絡數模轉換器　
7.2.4　集成數模轉換器　
7.2.5　數模轉換器的主要參數　
7.3　模數轉換器　
7.3.1　采樣保持和量化編碼　
7.3.2　雙積分型模數轉換器　
7.3.3　逐次漸近型模數轉換器　
7.3.4　并聯比較型模數轉換器　
7.3.5　集成模數轉換器　
7.3.6　模數轉換器的主要參數　
小結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　
實驗與實訓　

第8章　半導體存儲器和可編程邏輯器件　
8.1　半導體存儲器　
8.1.1　基本概念　
8.1.2　半導體存儲器分類　
8.2　只讀存儲器(ROM)　
8.2.1　只讀存儲器結構和分類　
8.2.2　只讀存儲器的應用　
8.3　隨機存取存儲器(RAM)　
8.3.1　隨機存取存儲器結構與分類　
8.3.2　存儲器容量的擴展　
8.4　可編程邏輯器件(PLD)　
8.4.1　PLD器件的分類　
8.4.2　PLD電路的基本結構　
8.4.3　可編程組合邏輯器件　
8.4.4　PLD的設計流程　
總結　
關鍵術語　
自我測試題　
習題　
實驗與實訓　

附錄　Multisim10簡介　
參考文獻