譚劍波、尤路、黃新、張卿、孫大成等編著的這本《邊界掃描測(cè)試技術(shù)》主要從邊界掃描技術(shù)的產(chǎn)生、原理以及應(yīng)用三個(gè)方面，對(duì)邊界掃描技術(shù)作了較為詳細(xì)的介紹。包括用于數(shù)字電路測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.1、混合電路測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.4、系統(tǒng)級(jí)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.5、高速數(shù)字網(wǎng)絡(luò)邊界掃描測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.6，邊界掃描技術(shù)在芯片設(shè)計(jì)中的應(yīng)用，網(wǎng)絡(luò)型邊界掃描測(cè)試控制器的設(shè)計(jì)以及相關(guān)可測(cè)試性及工程應(yīng)用設(shè)計(jì)實(shí)例等內(nèi)容。
　　《邊界掃描測(cè)試技術(shù)》可作為高等院校電子信息、通信、測(cè)試測(cè)控、自動(dòng)化等電子類學(xué)科專業(yè)高年級(jí)學(xué)生或研究生的課程教材使用，也可作為電子類相關(guān)領(lǐng)域工程技術(shù)人員的參考資料。