關(guān)于我們
書單推薦
新書推薦

半導(dǎo)體工藝與測試實(shí)驗(yàn)

半導(dǎo)體工藝與測試實(shí)驗(yàn)

定  價:34 元

叢書名:中山大學(xué)物理學(xué)實(shí)驗(yàn)系列教程

        

  • 作者:謝德英 ... [等] 編
  • 出版時間:2015/3/1
  • ISBN:9787030436467
  • 出 版 社:科學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TN305 
  • 頁碼:182
  • 紙張:膠版紙
  • 版次:1
  • 開本:16K
9
7
4
8
3
7
6
0
4
3
6
0
7

讀者對象:本書可作為高等院校微電子學(xué)、電子科學(xué)與技術(shù)、光電等專業(yè)本科生相關(guān)實(shí)驗(yàn)課程的教材,也可作為從事微電子科學(xué)、電子器件、集成電路等工程研究和應(yīng)用相關(guān)人員的實(shí)驗(yàn)技術(shù)參考書

  《半導(dǎo)體工藝與測試實(shí)驗(yàn)》主要內(nèi)容包括半導(dǎo)體工藝的6個主要單項(xiàng)實(shí)驗(yàn)、半導(dǎo)體材料特性表征與器件測試實(shí)驗(yàn)、工藝和器件特性仿真實(shí)驗(yàn)。并通過綜合流程實(shí)驗(yàn)整合各單項(xiàng)實(shí)驗(yàn)知識和技能,著重培養(yǎng)學(xué)生的半導(dǎo)體器件的綜合設(shè)計能力。

更多科學(xué)出版社服務(wù),請掃碼獲取。
 你還可能感興趣
 我要評論
您的姓名   驗(yàn)證碼: 圖片看不清?點(diǎn)擊重新得到驗(yàn)證碼
留言內(nèi)容