目 錄 緒論10.1 電路與電子系統(tǒng)的復(fù)雜性10.2 電路與電子系統(tǒng)故障診斷的必要性20.3 電路與電子系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)20.3.1 模擬電路與系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)20.3.2 數(shù)字電路與系統(tǒng)測(cè)試的特點(diǎn)30.3.3 混合電路測(cè)試的特點(diǎn)40.4 本書主要內(nèi)容4本章參考文獻(xiàn)6第1章 電子系統(tǒng)常用故障診斷方法71.1 常見故障診斷方法71.1.1 基于故障模型的診斷方法71.1.2 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的診斷方法91.1.3 基于信號(hào)處理的方法101.1.4 基于解析模型的方法111.1.5 基于知識(shí)的故障診斷方法121.1.6 故障診斷方法的發(fā)展趨勢(shì)141.2 基于故障樹的故障診斷方法151.2.1 故障樹分析法中的基本概念和 符號(hào)161.2.2 故障樹的生成171.2.3 IEEE 1232的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)191.2.4 IEEE 1232模型文件191.2.5 IEEE 1232的推理機(jī)服務(wù)20本章參考文獻(xiàn)21第2章 數(shù)字電路測(cè)試與故障診斷222.1 數(shù)字電路測(cè)試方法概述222.1.1 數(shù)字電路測(cè)試的基本概念222.1.2 數(shù)字電路測(cè)試的必要性和復(fù)雜性222.1.3 數(shù)字電路測(cè)試的發(fā)展242.2 數(shù)字電路故障模型與測(cè)試252.2.1 故障及故障模型252.2.2 故障測(cè)試272.2.3 故障冗余292.3 數(shù)字電路測(cè)試的基本任務(wù)302.3.1 測(cè)試矢量的產(chǎn)生302.3.2 測(cè)試響應(yīng)的觀測(cè)312.4 可測(cè)性與完備性322.4.1 可測(cè)性322.4.2 完備性322.5 復(fù)雜系統(tǒng)的分級(jí)測(cè)試332.5.1 子系統(tǒng)一級(jí)的測(cè)試332.5.2 微機(jī)系統(tǒng)的測(cè)試342.6 窮舉測(cè)試法342.6.1 單輸出無扇出電路352.6.2 帶匯聚扇出的單輸出電路382.6.3 各輸出不依賴于全部輸入的 多輸出電路402.7 故障表方法402.7.1 固定式列表計(jì)劃偵查412.7.2 固定計(jì)劃定位422.7.3 適應(yīng)性計(jì)劃偵查和定位44習(xí)題47本章參考文獻(xiàn)48第3章 組合電路與時(shí)序電路的故障診斷503.1 通路敏化503.1.1 敏化通路503.1.2 通路敏化法513.1.3 關(guān)于一維敏化的討論533.1.4 多維敏化553.2 d算法563.2.1 d算法的基礎(chǔ)知識(shí)563.2.2 d算法的基本步驟583.2.3 d算法舉例583.2.4 擴(kuò)展d算法633.3 布爾差分法683.3.1 布爾差分的基本概念683.3.2 布爾差分的特性693.3.3 求布爾差分的方法703.3.4 單故障的測(cè)試733.3.5 多重故障的測(cè)試763.4 故障字典783.5 時(shí)序邏輯電路的測(cè)試783.6 迭接電路法793.6.1 基本思想793.6.2 同步時(shí)序電路的組合迭接803.6.3 異步時(shí)序電路的組合迭接823.7 狀態(tài)變遷檢查法853.7.1 初始狀態(tài)的設(shè)置853.7.2 狀態(tài)的識(shí)別883.7.3 故障的測(cè)試883.7.4 區(qū)分序列的存在性89習(xí)題91第4章 模擬電路與混合信號(hào)的故障診斷924.1 模擬電路測(cè)試的復(fù)雜性924.1.1 模擬電路故障診斷概述924.1.2 模擬電路故障診斷技術(shù)的產(chǎn)生924.1.3 模擬電路故障特點(diǎn)934.1.4 故障診斷是網(wǎng)絡(luò)理論的一個(gè)重要 分支934.2 模擬電路的故障模型944.3 模擬電路的故障診斷方法954.3.1 傳統(tǒng)的故障診斷方法964.3.2 目前的故障診斷方法964.3.3 發(fā)展中的新故障測(cè)試方法974.4 故障字典法994.4.1 直流域中字典的建立994.4.2 頻域中字典的建立1034.4.3 時(shí)域中字典的建立1074.4.4 故障的識(shí)別與分辨1104.5 混合信號(hào)測(cè)試概述1124.5.1 混合信號(hào)的發(fā)展1124.5.2 混合信號(hào)測(cè)試面臨的挑戰(zhàn)1124.5.3 混合信號(hào)的基本測(cè)試方法1134.5.4 混合信號(hào)測(cè)試的展望1144.6 數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器簡(jiǎn)介1154.6.1 數(shù)模轉(zhuǎn)換器1154.6.2 模數(shù)轉(zhuǎn)換器1184.7 混合信號(hào)測(cè)試總線1244.7.1 IEEE 1149.4電路結(jié)構(gòu)1244.7.2 IEEE 1149.4測(cè)試方法1264.7.3 IEEE 1149.4標(biāo)準(zhǔn)指令126本章參考文獻(xiàn)128第5章 電路板維修技術(shù)1305.1 維修前的準(zhǔn)備1305.1.1 維修設(shè)備和工具1305.1.2 安全技術(shù)1305.1.3 感官訓(xùn)練1315.2 檢修技術(shù)和方法1315.2.1 電路檢修原則1315.2.2 具體電路問題及故障處理順序1325.2.3 故障維修方法1325.2.4 小結(jié)145第6章 微機(jī)系統(tǒng)的故障診斷1476.1 存儲(chǔ)器的測(cè)試1476.1.1 RAM中的故障類型1486.1.2 測(cè)試的若干原則性考慮1496.1.3 存儲(chǔ)器測(cè)試方法1506.1.4 各種測(cè)試方法的比較1556.2 ROM的測(cè)試方法1566.3 微處理器的測(cè)試1576.3.1 ?P的算法產(chǎn)生測(cè)試1586.3.2 ?P功能性測(cè)試的一般方法1616.3.3 ?P功能性測(cè)試的系統(tǒng)圖方法1666.4 利用被測(cè)系統(tǒng)的應(yīng)用程序進(jìn)行測(cè)試1686.4.1 基本概念1686.4.2 應(yīng)用程序的模型化1686.4.3 關(guān)系圖1706.4.4 測(cè)試的組織1726.4.5 通路測(cè)試的算法174習(xí)題177本章參考文獻(xiàn)177第7章 可測(cè)性設(shè)計(jì)1787.1 可測(cè)性設(shè)計(jì)的概念1787.1.1 可靠性的定義1787.1.2 可靠性的主要參數(shù)指標(biāo)1797.1.3 可測(cè)性設(shè)計(jì)的提出1797.2 可測(cè)性設(shè)計(jì)的發(fā)展1807.2.1 可測(cè)性的起源與發(fā)展過程1807.2.2 國(guó)內(nèi)情況1817.2.3 關(guān)鍵的技術(shù)1827.2.4 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)1837.2.5 可測(cè)性設(shè)計(jì)發(fā)展趨勢(shì)1857.3 可測(cè)性的測(cè)度1867.3.1 基本定義1867.3.2 標(biāo)準(zhǔn)單元的可測(cè)性分析1887.3.3 可控性和可觀測(cè)性的計(jì)算1907.4 可測(cè)性設(shè)計(jì)方法1917.5 內(nèi)建自測(cè)試設(shè)計(jì)1947.5.1 多位線性反饋移位寄存器1957.5.2 偽隨機(jī)數(shù)發(fā)生器1977.5.3 特征分析器1987.5.4 內(nèi)建自測(cè)試電路設(shè)計(jì)2007.6 邊界掃描技術(shù)2027.6.1 JTAG邊緣掃描可測(cè)性設(shè)計(jì) 的結(jié)構(gòu)2037.6.2 工作方式2057.6.3 邊緣掃描單元的級(jí)聯(lián)2067.6.4 JTAG的指令2077.6.5 JTAG應(yīng)用舉例2087.6.6 JTAG的特點(diǎn)210本章參考文獻(xiàn)210第8章 網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試儀器2128.1 分布式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)2128.1.1 分布式系統(tǒng)概述2128.1.2 分布式系統(tǒng)結(jié)構(gòu)及其特點(diǎn)2138.1.3 分布式系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)2148.1.4 分布式自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)2158.2 網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試儀器2178.2.1 網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試儀器概述2178.2.2 網(wǎng)絡(luò)化測(cè)試儀器設(shè)計(jì)規(guī)范2178.3 LXI總線測(cè)試儀器2338.3.1 LXI總線的發(fā)展2338.3.2 LXI測(cè)試儀器的基本特性2338.3.3 LXI測(cè)試儀器的分類2358.3.4 LXI測(cè)試儀器的結(jié)構(gòu)與電氣 特性2388.3.5 LXI測(cè)試儀器的網(wǎng)絡(luò)設(shè)置 與通信2428.3.6 LXI測(cè)試儀器的觸發(fā)與同步2478.3.7 LXI測(cè)試儀器IVI驅(qū)動(dòng)接口設(shè)計(jì) 方法250本章參考文獻(xiàn)253第9章 面向信號(hào)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)2549.1 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)概述及發(fā)展2549.1.1 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的框架結(jié)構(gòu)2549.1.2 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的提出與發(fā)展2559.1.3 面向信號(hào)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)2579.1.4 面向信號(hào)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的 技術(shù)框架2589.2 IEEE 1641協(xié)議2609.2.1 IEEE 1641的提出2609.2.2 信號(hào)的層次結(jié)構(gòu)2619.2.3 IEEE 1641標(biāo)準(zhǔn)的不足2639.3 ATML標(biāo)準(zhǔn)2639.3.1 XML標(biāo)記語言2639.3.2 ATML標(biāo)準(zhǔn)2649.3.3 協(xié)議與自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)各部分 的關(guān)系2659.4 IVI技術(shù)2669.4.1 可互換虛擬儀器技術(shù)2669.4.2 IVI技術(shù)2679.4.3 IVIsignal2699.5 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用2709.5.1 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的軟件結(jié)構(gòu)2709.5.2 測(cè)試過程272本章參考文獻(xiàn)272