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公差配合與技術測量

公差配合與技術測量

定  價:35 元

叢書名:高等學校計算機基礎教育教材精選

        

  • 作者:王玉亭
  • 出版時間:2018/8/1
  • ISBN:9787121345517
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TG801 
  • 頁碼:14
  • 紙張:
  • 版次:01
  • 開本:16開
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讀者對象:精密檢測專業(yè)及相關專業(yè)一年級學生

本教材是精密檢測專業(yè)系列用書中的第一本教材。全書共有九個項目:零件的尺寸測量、零件形狀公差與測量、零件輪廓公差與測量、零件定向公差與測量,零件定位公差與測量、零件跳動公差與測量、零件表面粗糙度、典型復雜零件的測量、高精檢測量設備的應用。通過以上九個教學項目的系列學習,由淺入深的圍繞公差和誤差測量進行講解。以項目任務驅(qū)動為導向,通過案例分析,使學生在知其然的同時也能知其所以然,更加易于理解,將理論知識很好的和實踐結(jié)合起來。
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