該書(shū)將讀者帶進(jìn)了逆問(wèn)題領(lǐng)域。逆問(wèn)題的研究對(duì)許多科技領(lǐng)域諸如地球物理探測(cè)、系統(tǒng)識(shí)別、無(wú)損檢測(cè)及超聲層析成像等，有著重要的作用。該書(shū)分兩部分。第一部分講不適定問(wèn)題的基本概念和困難。書(shū)中通過(guò)幾個(gè)簡(jiǎn)單的解析數(shù)值算例研究了線性不適定問(wèn)題正則法的基本特征。該書(shū)的第2部分詳細(xì)地研究了三個(gè)特殊非線性逆問(wèn)題，即逆譜問(wèn)題、電阻抗斷層成像逆問(wèn)題和逆散射問(wèn)題。

Andreas Kirsch(A. 基爾施，德國(guó))是國(guó)際知名學(xué)者，在數(shù)學(xué)界享有盛譽(yù)。本書(shū)凝聚了作者多年科研和教學(xué)成果，適用于科研工作者、高校教師和研究生。