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軟件測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐

軟件測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐

定  價(jià):69 元

        

  • 作者:付朝暉
  • 出版時(shí)間:2023/2/1
  • ISBN:9787121449543
  • 出 版 社:電子工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:TP311.5 
  • 頁(yè)碼:
  • 紙張:
  • 版次:
  • 開本:
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本書共分為12章,第1-4章講解軟件測(cè)試基礎(chǔ),包括軟件測(cè)試概念、流程、測(cè)試計(jì)劃,測(cè)試用例設(shè)計(jì),測(cè)試策略,軟件測(cè)試總結(jié)和測(cè)試過程改進(jìn);第5~8章講解功能自動(dòng)化測(cè)試相關(guān)知識(shí),包括selenium Web自動(dòng)化測(cè)試,自動(dòng)化測(cè)試模型,unittest單元自動(dòng)化測(cè)試框架,QTP自動(dòng)化測(cè)試;第9-11章講解性能測(cè)試,包括性能測(cè)試概念,Load Runner 性能測(cè)試,Jmeter性能測(cè)試;第12章為手機(jī)App測(cè)試,包括App常規(guī)測(cè)試、adb、monkey,同時(shí)附錄中收錄了常見面試題。
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