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光學檢驗與測試

光學檢驗與測試

定  價:188 元

        

  • 作者:[以色列]邁克爾·豪斯納(Michael Hausner) 王小勇
  • 出版時間:2023/2/16
  • ISBN:9787118128833
  • 出 版 社:國防工業(yè)出版社
  • 中圖法分類:O435 
  • 頁碼:400
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:16開
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本書的重點內(nèi)容有:從幾何光學和物理光學出發(fā),引出光像差理論,提出光學材料定義,光學材料種類以及制造方法和主要特性;介紹了各類光學材料制造過程:提出光學元件加工、光學元件鍍膜、光學粘合劑等光學元件制造、裝配技術等。 (1)
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