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材料測(cè)試技術(shù)與分析方法

材料測(cè)試技術(shù)與分析方法

定  價(jià):69 元

        

  • 作者:楊玉林[等]編著
  • 出版時(shí)間:2023/8/1
  • ISBN:9787576709193
  • 出 版 社:哈爾濱工業(yè)大學(xué)出版社
  • 中圖法分類:TB3 
  • 頁碼:427頁
  • 紙張:
  • 版次:1
  • 開本:26cm
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本書共分19章,依次為掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、拉曼光譜、掃描隧道電子顯微鏡、原子力顯微鏡、X射線衍射分析、紅外吸收光譜、紫外一可見分光光度法和紫外漫反射光譜、分子熒光光譜法、X射線熒光光譜、核磁共振波譜法、電子順磁共振、質(zhì)譜分析法、熱分析技術(shù)、等離子體發(fā)射光譜、電化學(xué)分析方法和聯(lián)用測(cè)試技術(shù)與分析方法。在編撰過程中,以培養(yǎng)學(xué)生獨(dú)立分析問題和解決問題的能力為重心,盡量簡(jiǎn)化理論深度,突出實(shí)用性。
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