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材料現(xiàn)代測試分析技術(shù) 
定 價(jià)：158 元
9 7 9 8 6 7 9 5 2 6 9 2 7 讀者對(duì)象:本書既可作為我國高等學(xué)校材料類和化工類專業(yè)本科生和研究生的公共理論與實(shí)踐課程的教材，也可供材料與化工領(lǐng)域相關(guān)專業(yè)的技術(shù)人員閱讀參考
本書分為：晶體結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)、X射線光電子能譜分析、X射線能譜光譜分析、粉末晶體X射線衍射分析等八章。主要內(nèi)容包括：晶體的結(jié)構(gòu)及其基本性質(zhì)、晶體結(jié)構(gòu)與晶體點(diǎn)陣、對(duì)稱操作與對(duì)稱元素等。具體內(nèi)容包括：晶體及晶體結(jié)構(gòu)研發(fā)簡史；晶體、非晶體與準(zhǔn)晶體等。
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