《數(shù)字集成電路測試——理論、方法與實(shí)踐》全面介紹數(shù)字集成電路測試的基礎(chǔ)理論、方法與EDA實(shí)踐。第1章為數(shù)字集成電路測試技術(shù)導(dǎo)論，第2～9章依次介紹故障模擬、測試生成、可測試性設(shè)計(jì)、邏輯內(nèi)建自測試、測試壓縮、存儲器自測試與自修復(fù)、系統(tǒng)測試和SoC測試、邏輯診斷與良率分析等基礎(chǔ)測試技術(shù)，第10章擴(kuò)展介紹在汽車電子領(lǐng)域發(fā)展的測試技術(shù)，第11章對數(shù)字電路測試的技術(shù)趨勢進(jìn)行展望。
針對每一種數(shù)字集成電路測試技術(shù)，本書一方面用示例講述其技術(shù)原理，另一方面用電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)的商業(yè)工具對具體實(shí)例演示技術(shù)應(yīng)用過程（EDA工具應(yīng)用腳本及其說明可在配套資源中下載），并在每章后附有習(xí)題。通過本書，讀者一方面可以學(xué)習(xí)到基本的測試?yán)碚摵拖嚓P(guān)技術(shù)；另一方面，還可以對當(dāng)今芯片設(shè)計(jì)流程和EDA工具鏈中測試技術(shù)的運(yùn)用和實(shí)踐有所了解。
《數(shù)字集成電路測試——理論、方法與實(shí)踐》適合作為高等院校集成電路、計(jì)算機(jī)科學(xué)與技術(shù)、電子科學(xué)與技術(shù)等相關(guān)專業(yè)高年級本科生、研究生教材，也可供集成電路設(shè)計(jì)與測試行業(yè)的開發(fā)人員、廣大科技工作者和研究人員參考。