本書從數(shù)字集成電路測試與可測性設(shè)計的基本概念出發(fā)，系統(tǒng)介紹了數(shù)字集成電路測試的概念、原理及方法。主要內(nèi)容包括：數(shù)字集成電路測試基礎(chǔ)、測試向量生成、可測性設(shè)計與掃描測試、邊界掃描測試、內(nèi)建自測試、存儲器測試，以及可測性設(shè)計案例及分析。本書將理論與實踐相融合，深入淺出地進(jìn)行理論講解，并輔以實例解析，幫助讀者從入門級別的理解到信手拈來的精通，實現(xiàn)從理論知識到工程應(yīng)用的有效過渡。本書可作為高等院校集成電路設(shè)計與集成系統(tǒng)等專業(yè)的教材，也可供集成電路行業(yè)的工程技術(shù)人員參考。